晶體表面的性質和其原子架構有相當密切的關連．因此要描述此一性質，
必須對原子的位置有充分的了解．和晶體內部的原子數目比起來，表面的
原子數目相當的少．因此，為了探索表面現象，實驗儀器必須能接收到來
自表面微弱的信號且能濾掉來自晶體內部的信號．以往，科學家們利用粒
子與晶體之強作用，以獲得較短的穿透深度，最明顯的例子為ＬＥＥＤ．
但這存在著根本的缺點：由於交互作用相當強，多次散射的效果使得實驗
結果很難被解釋清楚．利用Ｘ光來探討表面現象則存在著相當大的優點：
Ｘ光和晶體之間的作用相當微弱．但是，同時也有個大問題：Ｘ光由表面
反射的量比起整個晶體反射的量實在太小了，只有1.0e-7個數量級．因此
，一個相當強的光源是必須的．近年來，由於同步輻射的發展，使得這個
問題能夠被解決．Ｅｉｓｅｎｂｅｒｇ等人發現，當Ｘ光以掠角入射晶體
，使得Ｘ光有相當小的穿透深度，表面的性質便能顯現出來．關於Ｘ光繞
射的理論主要可分為二種方法：一為靜力繞射理論，另一為動力繞射理論
．靜力理論於1914年即已被Ｄａｒｗｉｎ提出，對於一般的問題如繞射強
度及晶體結構的決定，可以有相當好的解釋．但是當入射角趨近臨界角，
此時必須考慮隨著布拉格繞射所產生的光學折射效應．Vineyard於1982年
根據此問題提出DWBA，可是， Vineyard只考慮了入射角，因此出現了繞
射強度最大值發生在入射角為零度處．到了1986年，Ｄｏｓｃｈ根據光學
上的交互定理，同時考慮入射角及出射角的作用，使得靜力繞射理論能使
用在掠角的情形．動力繞射理論則實際地將Ｍａｘｗｅｌｌ方程組應用於
晶體．相較於靜力繞射理論的著重於晶體外部的波向量差，動力繞射理論
則著眼於晶體內部的波向量．因此，動力繞射理論能更真實地描述繞射現
象．本篇論文之目的便在利用動力繞射理論於Ｘ光的掠角繞射．首先在第
二章先簡單地描述動力繞射理論。第三章則實際地運用此理論，同時考慮
一些實際晶體具有的性質．第四章，則簡單地把Ｄｏｓｃｈ所用的靜力繞
射理論加以描述．第五章則著重於探討計算結果及比較二者理論所預測結
果的的異同．
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