參考文獻
[1]B. T. Wang, and P. Zhang, Appl. Phys. Lett. 100, 082109 (2012).
[2]Y. Xia, D. Qian, D. Hsieh, L. Wray, A. Pal, H. Lin, A.Bansil, D.Grauer, Y. S. Hor, R. J. Cava, and M. Z. Hasan, Nat. Phys. 5, 398(2009).
[3]H. Zhang, C. X. Liu, X. L. Qi, X. Dai, Z. Fang, and S. C. Zhang, Nat. Phys. 5, 438 (2009).
[4]X. L. Qi, S. C. Zhang, Phys. Today 63, 33 (2010).
[5]Z. Ren, A. A. Taskin, S. Sasaki, K. Segawa, and Y.Ando, Phys. Rev.B 84, 165211 (2011).
[6]D. Hsieh, Y. Xia, D. Qian, L. Wray, J. H. Dil, F. Meier, J.O.
erwalder, L. Patthey, J. G. Checkelsky, N. P. Ong, A. V. Fedorov, H. Lin, A. Bansil, D. Grauer, Y. S. Hor, R. J. Cava, and M. Z. Hasan,
Nature 460, 1101 (2009).
[7]孔祥曦,「層狀材料中的傳輸性質」,國立台灣大學碩士論文,民國94年5月。[8]B. A. Bernevig, T. L.Hughes, and S. C. Zhang, Science 314, 1757 (2006).
[9]M. Konig, S. Wiedmann, and S. C. Zhang, Science 318, 766 (2007).
[10]W. Richter, H. Kohler, and C. R. Becker, Phys. Stat. Sol. B84,619
(1977).
[11]J.A. Sobota,S. Yang, J. G. Analytis,Y. L. Chen,I. R. Fisher,P. S. Kichmann, and Z. X. Shen, Phys. Rev. Lett.108, 117403 (2012).
[12]J. Qi, X. Chen, W. Yu, P. Cadden-Zimansky, D. Smirnov, N. H.Tolk,
I. Miotkowski, H. Cao, Y. P. Chen, Y. Wu, S. Qiao, and Z. Jiang, Appl. Phys. Lett. 97, 182102 (2010).
[13]N. Kumar, B. A. Ruzicka, N. P. Butch, P. Syers, K.Kirshenbaum, J. Paglione, and H. Zha, Phys. Rev. B 83, 235306 (2011).
[14]Y. Y. Li, G. Wang, X.G. Zhu, M. H. Liu, C. Ye, X.Chen, Y. Y. Wang, K. Hu, L. L. Wang, X. C. Ma, H. J. Zhang, X. Dai, Z. Fang, X. C. Xie, Y. Lau, X. L. Qi, J. F. Jia, S.C. Zhang, and Q. K. Xue, Adv. Mater. 22, 4002 (2010).
[15] L. He, F. Xiu, Y. Wang, A. V.Fedorov, G. Huang, X. Kou, M. Lang, W. P. Beyermann, J. Zou, and K. L. Wang, J. Appl. Phys. 109, 103702 (2011).
[16]H. D. Li, Z. Y. Wang, X. Kan, X. Guo, H. T. He, Z. Wang, J. N. Wang, T. L. Wong, N. Wang, and M. H. Xi, New J. Phys. 12, 1033(2010).
[17]A. Richardella, D. M. Zhang, J. S. Lee, A. Koser, D. W. Rench, A. L. Yeats, B. B. Buckley, D. D. Awschalom, and N. Samarth, Appl. Phys. Lett. 97, 262104 (2010).
[18]L. Meng, H. Meng, W. Gong, I. Liu, and Z. Zhang, Thin Solid Films 519, 7627 (2011).
[19]蔡淑慧,「拉曼光譜在奈米碳管檢測上之應用」,奈米通訊,第十二卷第二期,47~51頁,94年5月。[20]H. B. Zhang, H. L. Yu, and G. W. Yang, Europhys. Lett. 95, 56002(2011).
[21]W. Cheng, and S.F. Ren, Phys. Rev. B 83,094301 (2011).
[22]陳信宏,謝文峰,「利用KrF準分子雷射濺鍍AgGaS2非線性光學薄膜」,碩士論文,光電工程研究所,民國88年7月。[23]T. H. Kim, J. H. Baeck, H. Choi, K. H. Jeong, M. H. Cho, B. C. Kim, and K. T. Jeong, J. Phys. Chem. C 116, 3737(2012).
[24]I. L. Li and Z. K. Tang, Appl. Phys. Lett. 80, 25(2002).
[25]D. A. Neamen, “Semiconductor Physics and devices’’, McGRAW-Hill, New York (2003).
[26]J. Qi, X. Chen, W. Yu, P. Cadden, D. Smirnov, N. H. Tolk, I. Miotkoweski, H. Cao, Y. P. Chen, Y. Wu, S. Qiao, and Z. Jiang, Appl. Phys. Lett. 97, 182102 (2009).
[27]C. Thomsen, H. T. Grahn, H. J. Maris, and J. Tauc, Phys. Rev. B 34, 6 (1986).
[28]C. Thomsen, J. Strait,Z.Vardeny,H.J.Maris, and J.Tauc, Phys. Rev. Lett. 53, 10 (1984).
[29]M. Hase, M. Kitajima, S. I. Nakashima, and K. Mizoguchi, Phys. Rev. Lett. 88, 6 (2002).
[30]H. Lind, S. Lidin, and U. Haussermann, Phys. Rev.B 84,101(2005).
[31]G. Koren,T. Kirzhner, E. Lahoud, K. B. Chashka, and A. Kanigel, Phy. Rev. B 84, 224521 (2011).
[32]V. Kovanda, M. Vlcek, and H. Jain, J. Non-Cryst. Solids 326, 88 (2003).