|
[1] T. Ralph, M. Hogarth, Platinum Metals Review, 46 (2002) 117-135. [2] W. Sheng, H.A. Gasteiger, Y. Shao-Horn, J. Electrochem. Soc., 157 (2010) B1529-B1536. [3] C. Koenigsmann, A. C. Santulli, K. Gong, M. B. Vukmirovic, W. P. Zhou, E. Sutter, S. S. Wong, R. R. Adzic, J. Am. Chem. Soc., 133 (2011) 9783-9795. [4] Z. Chen, M. Waje, W. Li, Y. Yan, Angew. Chem. Int. Ed., 46 (2007) 4060-4063. [5] F.d.r. Jaouen, J. Phys. Chem. C, 113 (2009) 15433-15443. [6] J. O. M. Bockris, S.U. Khan, Surface electrochemistry: a molecular level approach, Springer, 1993. [7] F.d.r. Jaouen, J. P. Dodelet, J. Phys. Chem. C, 113 (2009) 15422-15432. [8] V. R. Stamenkovic, B. S. Mun, M. Arenz, K. J. Mayrhofer, C. A. Lucas, G. Wang, P. N. Ross, N. M. Markovic, Nat. Mater., 6 (2007) 241-247. [9] P. Yu, M. Pemberton, P. Plasse, J. Power Sources, 144 (2005) 11-20. [10] S. Mukerjee, S. Srinivasan, M. P. Soriaga, J. McBreen, J. Electrochem. Soc., 142 (1995) 1409-1422. [11] X. Yu, S. Ye, J. Power Sources, 172 (2007) 133-144. [12] A. Arico, A. Shukla, H. Kim, S. Park, M. Min, V. Antonucci, Appl. Surf. Sci., 172 (2001) 33-40. [13] A. Shukla, M. Neergat, P. Bera, V. Jayaram, M. Hegde, J. Electroanal. Chem., 504 (2001) 111-119. [14] J. Zhang, K. Sasaki, E. Sutter, R. Adzic, Science, 315 (2007) 220-222. [15] Y. Xu, A.V. Ruban, M. Mavrikakis, J. Am. Chem. Soc., 126 (2004) 4717-4725. [16] M. Mavrikakis, B. Hammer, J. K. Nørskov, Phys. Rev. Lett., 81 (1998) 2819-2822. [17] E. Antolini, J. Salgado, M. Giz, E. Gonzalez, Int. J. Hydrogen Energy, 30 (2005) 1213-1220. [18] M. C. Williams, Fuel Cells, 1 (2001) 87-91. [19] C. W. Liu, Y. C. Wei, C. C. Liu, K. W. Wang, J. Mater. Chem., 22 (2012) 4641-4644. [20] B. Lim, M. Jiang, P. H. Camargo, E. C. Cho, J. Tao, X. Lu, Y. Zhu, Y. Xia, Science, 324 (2009) 1302-1305. [21] C. Xu, Y. Zhang, L. Wang, L. Xu, X. Bian, H. Ma, Y. Ding, Chem. Mater., 21 (2009) 3110-3116. [22] J. l. Shui, C. Chen, J. Li, Adv. Funct. Mater., 21 (2011) 3357-3362. [23] Y. Tan, J. Fan, G. Chen, N. Zheng, Q. Xie, Chem. Commun., 47 (2011) 11624-11626. [24] P. Tsiakaras, J. Power Sources, 171 (2007) 107-112. [25] C. Koenigsmann, E. Sutter, R.R. Adzic, S.S. Wong, J. Phys. Chem. C, 116 (2012) 15297-15306. [26] S. Sun, F. Jaouen, J. P. Dodelet, Adv. Mater., 20 (2008) 3900-3904. [27] B. J. Hwang, L. S. Sarma, J. M. Chen, C. H. Chen, S. C. Shih, G. R. Wang, D. G. Liu, J. F. Lee, M. T. Tang, J. Am. Chem. Soc., 127 (2005) 11140-11145. [28] F. J. Lai, L. S. Sarma, H. L. Chou, D. G. Liu, C. A. Hsieh, J. F. Lee, B. J. Hwang, J. Phys. Chem. C, 113 (2009) 12674-12681. [29] S. Mukerjee, J. McBreen, J. Electroanal. Chem., 448 (1998) 163-171. [30] F. J. Lai, W. N. Su, L. S. Sarma, D. G. Liu, C. A. Hsieh, J. F. Lee, B. J. Hwang, Chem. Eur. J., 16 (2010) 4602-4611. [31] S. H. Chang, W. N. Su, M. H. Yeh, C. J. Pan, K. L. Yu, D. G. Liu, J. F. Lee, B. J. Hwang, Chem. Eur. J., 16 (2010) 11064-11071. [32] N. Markovic, P. Ross, in, Marcel Dekker: New York, 1999, pp. 821-841. [33] J. Omura, H. Yano, M. Watanabe, H. Uchida, Langmuir, 27 (2011) 6464-6470. [34] J. McBreen, S. Mukerjee, J. Electrochem. Soc., 142 (1995) 3399-3404. [35] F.d.r. Jaouen, J.P. Dodelet, J. Phys. Chem. C, 113 (2009) 15422-15432. [36] S. Y. Ang, D. A. Walsh, Appl. Catal., B, 98 (2010) 49-56. [37] D. Chu, S. Gilman, J. Electrochem. Soc., 141 (1994) 1770-1773. [38] A. Pozio, M. De Francesco, A. Cemmi, F. Cardellini, L. Giorgi, J. Power Sources, 105 (2002) 13-19. [39] E. Ticianelli, J. Beery, S. Srinivasan, J. Appl. Electrochem., 21 (1991) 597-605. [40] E. Antolini, L. Giorgi, A. Pozio, E. Passalacqua, J. Power Sources, 77 (1999) 136-142. [41] V. Di Noto, E. Negro, S. Lavina, S. Gross, G. Pace, Electrochim. Acta, 53 (2007) 1604-1617. [42] A. Sarkar, V. Murugan, A. Manthiram, Langmuir, 26 (2010) 2894-2903. [43] Y. Y. Chu, Z. B. Wang, Z. Z. Jiang, D. M. Gu, G. P. Yin, J. Power Sources, 203 (2012) 17-25. [44] B. E. Warren, X-ray Diffraction, Courier Dover Publications, 1969. [45] Y. C. Bai, W. D. Zhang, C. H. Chen, J. Q. Zhang, J. Alloys Compd., 509 (2011) 1029-1034. [46] C. Xu, Y. Liu, J. Wang, H. Geng, H. Qiu, J. Power Sources, 199 (2012) 124-131. [47] M. Ohashi, K. D. Beard, S. Ma, D. A. Blom, J. St-Pierre, J. W. Van Zee, J. R. Monnier, Electrochim. Acta, 55 (2010) 7376-7384. [48] W. Li, P. Haldar, Electrochem. Solid-State Lett., 13 (2010) B47-B49. [49] K. Jayasayee, J. Veen, T. G. Manivasagam, S. Celebi, E. J. Hensen, F. A. De Bruijn, Appl. Catal., B, 111 (2012) 515-526. [50] X. Yu, S. Ye, J. Power Sources, 172 (2007) 145-154. [51] Y. Kim, H. J. Kim, Y. S. Kim, S. M. Choi, M. H. Seo, W. B. Kim, J. Phys. Chem. C, 116 (2012) 18093-18100. [52] A. Kuzume, E. Herrero, J.M. Feliu, J. Electroanal. Chem., 599 (2007) 333-343. [53] M. K. Jeon, P. J. McGinn, Electrochim. Acta, 64 (2012) 147-153. [54] M. Bron, S. Fiechter, M. Hilgendorff, P. Bogdanoff, J. Appl. Electrochem., 32 (2002) 211-216. [55] V. S. Murthi, R. C. Urian, S. Mukerjee, J. Phys. Chem. B, 108 (2004) 11011-11023. [56] S. Mukerjee, S. Srinivasan, M.P. Soriaga, J. McBreen, J Phys Chem, 99 (1995) 4577-4589. [57] F. Lima, W. Lizcano Valbuena, E. Teixeira Neto, F. Nart, E. Gonzalez, E. Ticianelli, Electrochim. Acta, 52 (2006) 385-393. [58] J. Wang, N. Markovic, R. Adzic, J. Phys. Chem. B, 108 (2004) 4127-4133.
|