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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:潘文立
研究生(外文):WenLih Pan
論文名稱:單晶Fe-Ni-O薄膜的晶體結構,混合價態與磁性行為
論文名稱(外文):Crystalline Structure, Mixed Valence States, and Magnetic Behavior in Single Crystalline Fe-Ni-O Thin Films
指導教授:陳 恭
指導教授(外文):Gung Chern
學位類別:碩士
校院名稱:國立中正大學
系所名稱:物理系
學門:自然科學學門
學類:物理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2004
畢業學年度:92
語文別:中文
中文關鍵詞:晶體結構混合價態
外文關鍵詞:Crystalline StructureMixed Valence States
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為了了解Fe-Ni-O混合薄膜形成的結構變化,我們使用分子束磊晶系統(MBE)分別製作一系列的鐵鎳混合氧化物薄膜於MgO(001)基板上,成長過程中,將成長溫度維持在2500C,薄膜厚度為1000。在薄膜量測方面,分別使用X-ray繞射儀器,測量薄膜晶格常數的變化情形、X-ray吸收光譜觀測薄膜的電子結構,與振動式樣品磁性偵測儀(VSM),測量薄膜磁性行為。實驗測量結果我們發現,混合薄膜Fe Ni O 在X=0~0.71的時候,其磁性行為、氧離子電子結構,皆與Fe O 類似,呈現spinel的結構,在x=0.8~1的時候,薄膜磁性消失,且氧離子的電子結構與NiO類似,呈現rocksalt的結構,因此我們這樣推測薄膜在X=0.71~0.8時結構發生了變化,而晶體結構的穩定性,與結構內離子的混合價態和離子的半徑大小相關。
In order to understand the structural transformation of the Fe - Ni - O mixture film formations, we use (MBE) molecular beam epitaxy to generate a series of Fe Ni O on MgO(001) substrate. During it’s developing process, we maintain its temperature at 250 0C and film in 1000  thickness. Regarding the film measurement, we use the x-ray diffraction instrument to measure the film’s crystal lattice constant transformation. We also use x-ray absorption spectroscopy to measure film’s electronic structure,and VSM to measure the film’s magnetic. Our laboratorial measurement research shows that mixture film Fe Ni O when X=0~0.71, its magnetic and oxide electric structure, is quite similar to Fe O ; both are spinel structure. However, when X=0.8~1,the film’s magnetic disappears and it’s oxide electric structures is also quite similar to NiO; both are rocksalt structure. Therefore, we would like to suppose that when X=0.71~0.8, the film’s structure transformed. Also, we may conclude the following assumption: the stability of crystal structure is related to the structure’s ion mixture valence and ion’s radius.
第一章 背景介紹……………………………………1
1-1 前言…………………………………………1
1-2 晶體結構介紹………………………………3
1-3 磁性理論介紹………………………………8
第二章 實驗儀器與實驗步驟………………………12
2-1 實驗儀器……………………………………12
2-2 實驗步驟……………………………………29
第三章 實驗結果與討論……………………………34
3-1 X-ray繞射量測的結果與討論…………….36
3-3 VSM磁性量測的結果與討論……………….43
3-2 X-ray吸收光譜量測結果與討論………….50
第四章 結論…………………………………………53
Reference…………………………………………….55
(1)Kittel “introduction to solid state physics”
(2) D. Adler, Solid State Phys. 21, 1(1968)
(3) Cullity ”Introduction to Magnetic Material”
(4)C.L.Chang,G.Chern,C.L.Chen,H.H.Hsieh,C.L.Dong,W.F.Pong,C.H.Chao,H.C.Chien,S.L.Chang,Solid State Communications 109(1999)599-604
(5)G.Chern,C.L.Chang,C.L.Chen,and C.L.Dong,1999America Vacumm Society(S0734-2101(99)11004-2)
(6) C.L.Chang,C.L.Chen,C.L.Dong,G.Chern,J.F.Lee,L.Y.Jang,journal of electron Spectroscopy and Related Phenmena 114-116(2001)545-548
(7)Sushin Chikazumi, ”physics of Ferromagnetism”
(8) X光繞射原理與材料結構分析(材料科學叢書1)
(9)陳旻慶,碩士論文,中正大學(90級)
(10)呂登復,“實用真空技術”
(11)王耿敏,碩士論文,中正大學(92級)
(12)蘇育葦,碩士論文,淡江大學(88級)
(13)磁性物理學(電子科技大學出版)
(14)賴耿陽,“薄膜製作工藝學”
(15) X光光譜分析之原理與應用(何文祥譯)
(16)李秉傑,科儀新知,第十三捲第四期(1992)
(17)磁性技術手冊,磁學簡介
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