在直序展頻系統中，通常使用延遲鎖定迴路（Ｄｅｌａｙ－Ｌｏｃｋｅｄ
Ｌｏｏｐｓ）作為碼追蹤迴路以達到並保持傳送端和接收端個別產生的
虛擬雜訊序列（Ｐｓｅｕｄｏ－Ｎｏｉｓｅ Ｃｏｄｅ Ｓｅｑｕｅｎｃ
ｅ）之間良好的相位同步。延遲鎖定迴路的品質一般用均方根追蹤誤差（
ＲＭＳ Ｔｒａｃｋｉｎｇ Ｅｒｒｏｒ）和平均失去鎖定時間（Ｍｅａ
ｎ Ｔｉｍｅ ｔｏ Ｌｏｓｅ Ｌｏｃｋ）來衡量。在足夠高的訊雜比
（ＳＮＲ）之可加性高斯白雜訊（ＡＷＧＮ）的通道下，線性分析法為一
恰當的延遲鎖定迴路分析法，而且均方根追蹤誤差為衡量迴路品質唯一之
重要參數。然而當訊雜比降到某個臨界值或者通道有多路徑效應下，線性
分析法便失去準確性使得必須利用非線性分析來替代。再者，此時迴路也
因常常失去鎖定而使平均失去鎖定時間如同均方根追蹤誤差般變為一個重
要的參數。在此篇論文中我們將專注於延遲鎖定迴路在微細胞展頻多工存
取或碼分多工存取系統之迴轉鏈路的品質評估。迴轉通道為一個緩時變多
路徑衰退通道，它可塑造成一點延遲線（Ｔａｐ Ｄｅｌａｙ Ｌｉｎｅ
），每個點（Ｔａｐ）相距一個虛擬雜訊碼週期（Ｔｃ）。利用這個模型
我們將使用非線性更新程序法（Ｒｅｎｅｗａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓ Ａｐ
ｐｒｏａｃｈ）來分析迴路品質。於分析中，我們將考慮包括：Ｒａｙｌ
ｅｉｇｈ 衰退特性、Ｒｉｃｉａｎ衰退特性、及含功率控制（Ｐｏｗｅ
ｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）之衰退特性。對含功率控制通道而言，基地台所收
到的訊號干擾比（ＳＩＲ）可描述成一個呈Ｌｏｇｎｏｒｍａｌ分佈之隨
機變數。選擇頻率（Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ－Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ）及非選
擇頻率在分析中將會被考慮，然而只給予非選擇頻率的數學分析結果。以
下概述本研究之種要結論：１．在沒有碼都卜勒效應時，較小的鑑別器偏
移（Ｄｉｓｃｒｉｍｉｎａｔｏｒ Ｏｆｆｓｅｔ）對所有考慮之衰退特
性而言，都有較好的追蹤誤差及平均失去鎖定時間之品質表現。然而有碼
都卜勒效應時，太小的鑑別器偏移導至一個無法接受的品質，因延遲鎖定
迴路在此時無法追蹤碼都卜勒效應。２．在多路徑衰退通道下，功率控制
法是個改善延遲鎖定迴路品質的有效方法。例如與Ｒａｙｌｅｉｇｈ衰退
特性通道及Ｒｉｃｉａｎ衰退通道（Ｋ＝０ｄＢ）相比較，功率控制分別
節省６ｄＢ及３ｄＢ的訊號干擾比，其中Ｋ為Ｒｉｃｉａｎ衰退模型之主
路徑對散射路徑功率比。再者，功率控制法之準確度對延遲鎖定迴路品質
只有些微影響。
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