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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:吳柏毅
論文名稱:應用限制理論縮短生產週期之研究
論文名稱(外文):Applying TOC to shorten TFT-LCD Production Cycle Time
指導教授:姜齊姜齊引用關係
學位類別:碩士
校院名稱:國立交通大學
系所名稱:管理學院管理科學學程
學門:商業及管理學門
學類:企業管理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2012
畢業學年度:100
語文別:中文
論文頁數:50
中文關鍵詞:薄膜電晶體液晶顯示器、限制理論、生產週期
外文關鍵詞:TFT-LCD、TOC、Cycle Time
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TFT-LCD(thin-film transistor liquid-crystal display)產業是個高度資本密集的行業,為了提升產業競爭力,鞏固全球市佔率,個案公司在不增加額外費用的前提下,縮短生產週期,提升產能,就可以為公司創造出更高的價值。本研究參照高德拉特博士(Eliyahu Goldratt)之著作「目標-簡單而有效的常識管理」,依循限制理論的概念並加以實踐。1980年代,高德拉特博士發展出-最佳化生產技術(Optimized Production Technology, OPT),在學術上常將此技術以限制理論(Theory of Constraint, TOC)稱之,TOC是一種用來管理組織的直覺架構(Intuitive Framework),首先需確定工廠生產瓶頸為何,並針對瓶頸所耗費之時間加以分析研究,後續有效的縮短瓶頸機台的製程時間,並提升瓶頸機台的整體使用率達到縮短生產週期的成效。經過三個月的實踐,獲得正面且令人雀躍的成績。個案工廠在沒有增加花費的情形下有效縮短生產週期,提升工廠生產效率,為公司創造更高的價值。
TFT-LCD is a highly capital-intensive industry. The company in this industry creates value and increases their global market share by reducing production cycle time on the basis of no additional cost incurred. In this research, we take the concept of systematic theory in the book “The Goal: A Process of Ongoing Improvement” written by Dr. Goldratt to practice the reduction of cycle time. In the 1980s, Dr. Goldratt developed Optimized Production Technology, which is commonly known as Theory of Constraint (TOC) academically. By using TOC to identify factory bottlenecks, we can effectively shorten bottleneck machine process time and improve the utilization to decrease the overall production cycle time. After three months of experiment, a positive and exciting result is found, The factory in this case successfully shortened production cycle time and improved the efficiency with no additional spending to create higher value for the company.
摘 要...............I
Abstract..................II
致 謝..............III
目錄......................IV
表目錄...................VII
圖目錄..................VIII
第一章、緒論...............1
1.1、研究背景與動機........1
1.2、研究目的與架構........2
第二章、文獻探討...........3
2.1、TFT-LCD生產流程概述...3
2.2、Array 製程介紹........4
2.2.1、Thin film process (薄膜製程).................4
2.2.2、Photo Process (黃光製程).....................6
2.2.3、Etch Process (蝕刻製程)......................7
2.2.4、Array Tester (測試區電性偵測)............... 8
2.2.5、面板廠世代演進...............................9
2.3、自動倉儲派貨系統簡介.............................9
2.4、Tact time (節拍時間/產距時間)....................11
2.5、OEE (Overall Equipment Effectiveness,設備總合效率).........12
2.6、限制理論...............................13
2.6.1、限制理論簡介.........................13
2.6.2、限制理論實施的五個專注步驟...........14
第三章、模式構建............................16
3.1、個案公司生產週期現況分析...............16
3.2、個案公司各工作站產能分析...............17
3.2.1、產線瓶頸確認…………….............17
3.2.2、瓶頸機台等候時間與製程時間分析…………………19
3.2.3、研究運用之理論………………………………………21
3.2.4、目標函數與決策因子…………………………………21
第四章、個案實例驗證...........................25
4.1、瓶頸設備產能改善..........................25
4.1.1、黃光 Tact time 分析......................25
4.1.2、黃光 Tact time 改善..............31
4.1.3、瓶頸製程時間改善確認...........33
4.2、瓶頸設備利用率改善………………………34
4.2.1、黃光利用率分析......................34
4.2.2、自動倉儲監控系統...................41
4.2.3、瓶頸利用率改善確認 ............43
4.2.4、瓶頸設備等候時間及製程時間改善確認 .............44
4.3、總生產週期改善確認....................45
第五章、結論 .......................................47
5.1、結論及成效 ..............................47
5.2、未來研究建議 ...........................47
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