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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:劉鈞瑋
研究生(外文):Jun Wei Liu
論文名稱:航電設備自動量測系統研製
論文名稱(外文):Automated Test System Design for Avionics Equipments
指導教授:姜仲鴻
指導教授(外文):Jong-Hong Jiang
口試委員:劉智群
口試委員(外文):Liu Ji Chyun
口試日期:2012-07-03
學位類別:碩士
校院名稱:中華科技大學
系所名稱:飛機系統工程研究所
學門:工程學門
學類:機械工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2012
畢業學年度:100
語文別:中文
論文頁數:38
中文關鍵詞:航電設備ATC 1400ANAV 2000R自動量測系統受測裝置(DUT)
外文關鍵詞:ATC 1400ANAV 2000RAutomated Test System(ATS)DUT
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本文為了建立自動量測系統的自製能力,並以ATC 1400A及NAV 2000R航電設備模擬測試儀器為兩大主軸,分別結合了PC與自動量測程式及相關介面等裝置,並針對航電設備DME、XPDR、VOR、LOC等進行自動量測功能。所有測試之流程,完全依據現有航電設備之維修規範且對相關量測程式以模組化歸類並歸納出各產品之自動測試系統設計歩驟,首先,對受測裝置(DUT)-如航電設備詢答器等之原理研究、測試點規劃及其信號特性分類並歸納各測試點測試順序;另為建立DUT自動測試之基本數據,可依循DUT相關文件並使用相關之電子儀器,以手動方式反覆測試DUT數據,作為自動測試系統之設計資料庫。
Automated Test System (ATS) of avionic equipments often has a certain purpose but is very expensive. In general, the seller can’t offer source code due to commercial secret so that rely on foreign technician when system out of condition. It’s very essential to build up self-design facility. We have build up an ATS for avionic equipments :DME、XPDR、VOR、LOC with ATC 1400A and NAV 2000R programmable signal simulator ,relevant interfaces and programs. We also follow technique standard to design, modulated test codes and summarized the design process of ATS are as bellows: First, principle study of Devices Under Test(DUT) - such as transponder, etc., test points plan, classified their signals’ characteristic, summarized the test points switching sequence; the others, in order to obtain the basic data of DUT in automated test, the sample can search for relevant documents and related electronic equipment used to manually verify the repeated test the devices under test, to set up an automated test system database.
摘要..............................................II
Abstract.........................................III
目次..............................................IV
第一章 緒論........................................1
第一節 前言......................................1
第二節 文獻回顧...................................2
第三節 動機與目的.................................3
第四節 論文架構...................................3
第二章 基本架構分析..................................4
第一節 基本架構...................................4
第二節 測試電路設計................................6
一、 故障模式-卡住故障............................6
二、 故障偵測-待測電路基本模式.....................7
三、 測試向量產生法-故障表法.......................8
第三節 內建自我測試(Built-in Self Test)............9
第四節 週邊掃描測試Boundary-Scan(IEEE 1349.1)......11
一、 Boundary-Scan.............................11
二、 指令暫存器Instruction Register..............12
三、 測試存取埠Test Access Port(TAP).............12
四、 測試存取埠控制器TAP Controller...............13
五、 資料暫存器(Data Register)...................14
六、 測試流程....................................14
第三章製作步驟與量測方法...............................15
第一節 測試工具....................................15
第二節 系統整合步驟.................................18
第四章 結果與實作.....................................22
第一節 測試步驟....................................22
一、 DME之XMTR FREQ及POWER LEVEL量測.............22
二、 DME之Bandwidth及Sensitivity量測.............24
三、 XPDR之PLUSE WIDTH DECODER量測..............26
四、 VOR測試流程圖...............................28
第二節 測試結果....................................33
第五章 結論.........................................36
參考文獻............................................37

[1]Lance Butler,“PXI-Based RF Record/Playback System,”NI-Homepage/solutions/by industry,August 2006.
[2]Justin Thomas,“Automated Test Equipment–Flight Control System,”NI-Home page/solutions/by industry, August 2006.
[3]BENDIX/KING,KT76A/78A Transponder maintenance manual,pp.3-1~4-18,1996.
[4]IFR Americas,INC,ATC-1400A-2 Transponder/DME Test Manual,Section 2 pp67~81,2-2-4 pp1~67,1998.
[5]BFGoodrich Aerospace,NAV 2000R Signal Generator,pp3.7~3.13,PG A-1~A-9,October 1997.
[6]林銘波,數位系統設計,全華科技圖書股份有限公司,1996年9月。
[7]Chih Cheng Cheng,A Design on the IEEE P1500 Complied CPU Core,Department of Electronic Engineering I-Shou University,Chapter 2 pp6-8,June 2006.
[8]IEE Standard “IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,” IEEE Press, New York, 2001.
[9]Ming Tung Chang,SoC Test Integration – Using boundary Scan TAP Controller, Feng Chia University,Chapter 2 pp6-13,January 2008.

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