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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:高蔡勝
研究生(外文):Gau Tsi-Sheng
論文名稱:利用動力繞射效應解決X光表面/介面繞射強度問題
論文名稱(外文):Solving the Intensity Problem of the Surface X-ray Diffraction Using the Dynamical Diffraction Theory
指導教授:張石麟
指導教授(外文):Chang Shih-Lin
學位類別:博士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:物理研究所
學門:自然科學學門
學類:物理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1994
畢業學年度:82
語文別:中文
論文頁數:92
中文關鍵詞:動力繞射理論表面物理X光
外文關鍵詞:X-ray dynamical theorySurface X-ray Diffraction
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描述以動力繞射理論計算倒晶格柱掃描的強度分佈,計算結果相當成功.並
且本計算也提供了一個絕對的強度尺度,當在偵測晶體表面粗糙度時,可以
提供一個較準確的結果.
We supply a complete calculation of the surface X-ray rod-scan.
The calculated result simulates the experimental intensity dis-
tribution very well.And, this result give an absolute intensity
scale to the rod profile, which makes the estimation of the
sur- face roughness more correctly.
封面
目錄
Chapter 1 表面x光繞射的動力理論計算及實驗
§1-1
§1-2
§1-3
§1-3-1
§1-3-2
§1-3-3
§1-3-4
§1-4
§1-5
§1-6
Chapter 2 以表面X光繞射分析YBCO/SrTiO3(001)薄膜的層狀結構
§2-1
§2-2
§2-3
§2-4
總結
附錄一 Convolutin function
附錄二 靜力理論在 rod-scan 中的適用範圍
附錄三 程式
附錄四 YBCO/SrTiO3(001) bi-crystal結構分析
參考文獻
附圖
其他
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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