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第一章 [1] 陳溪山,中山大學博士論文,(2003)。 [2] N. Li, C. R. Martin, and B. Scrosati, Electrochemical and Solid-state Letter, 3, 316, (2000). [3] 劉永振,雲林科技大學碩士論文,(2002)。 [4] R. Retoux, T.Brousse, and D.M. Schleich, Journal of Electrochemical Society, 146, 2472, (1999). [5] 黃炳照,台灣科技大學碩士論文,(2004)。 [6] A. Dailly, L. Balan, J. Ghanbaja, P. Willmann, and D. Billaud, Carbon, 43, 1001, (2005). [7] L. Balan, J. Ghanbaja, P. Willmann, and D. Billaud, Carbon, 43, 2311, (2005). [8] A. Dailly, J. Ghanbaja, P. Willmann, and D. Billaud, Electrochim. Acta, 48, 977, (2003). [9] L. Balan , R. Schneiderb, J. Ghanbaja , P. Willmann , and D. Billaud, Electrochimica Acta, (2005). [10]H. Tomonaga, and T. Morimoto, Thin Solid Films 392, 243, (2001). [11] 林鴻明,曾世傑,2000, “奈米半導體材料之特殊氣體感測”,工業材料,第157 期, 163。 [12] B. Y. Wei, M.C. Hsu, P. G. Su, H. M. Lin, R. J. Wu, and H. J. Lai, Sensor and Actuator B,81, 101, (2004). [13] G. Zhang, and M. Liu, Sens, Actuators B, 69, 144, (2000). [14] J. Andrei, A. Yuecel, Z. Maria, and W. Michael, J. Sol–Gel Sci. Tech, 26, 483, (2003). [15]K. Steiner, U. Hoefer, G. Kuhner, G. Sulz and E. Wabner, Sensor and Actuators B, 24-25, 529-531 (1995). [16]M. C. Horrillo, J. Gutierrez, L. Ares, J. I. Robla, I. Sayago, J. Getino and J. A. Agapito, Sensors and Actuators B, 25, 507 (1995). [17] E. W. Williams and A.G. Keeling, Journal of Materials science: Materials in Electronics 9, 51-54 (1998). [18] K. Fukui and M. Nakane, Sensors and Actuators B, 24-25, 486-490 (1995). [19] 鍾文仁,中原大學碩士論文,(2000)。 [20] 李石成,成功大學碩士論文,(2005)。 [21] Y. Wang, J. Y. Lee, and T.C. Deivaraj, Journal of The Electrochemical Society, 151, A1804, (2004). [22] Y. Zhao, Z. Zhang, and H. Dang, Mater. Sci. Eng., 359, 405, (2003). [23] H. Bijnnemann, W. Brijoux, R. Brinkmann, R. Fretxen,T. Joussen, K. Kiippler, B. Korall, P. Neiteler and J. Richter, Journal of Molecular Catalysis, 86, 129, (1994). [24] R. Retoux, T. Brousse, D. M. Schleich, Journal of Electrochem Society, 146, 2472, (1999)
第二章 [1] 王鉦源,成功大學碩士論文,(2002)。 [2] 葉伊同,中正大學化學碩士論文,(1998)。 [3] S. S. Chang and C. R .C. Wang, Chemistry, 56, 209, (1998). [4] N.T. Hu, T.W. Odom and C.M. Lieber, Acc. Chem. Res. 32, 435, (1999). [5] N.R. Jana, L. Gearheart and C.J. Murphy, Chem. Commum. 617, (2001). [6] Y. Sun and Y. Xia, Science, 298, 2176, (2002). [7] 物理雙月刊 614-624 ,(2001)。 [8] Hari Singh Nalwa, M.Sc. Handbook of Nanostructured Materials and Nanotechnology, (2000). [9] D. Zeng and M. J. Hampden-smith, Chem. Mater. 5, 681, (1993). [10] L. K. Kurihara, G. M. Chow and P. E. Schoen, Nanostructured Materials, 6, 607, (1995). [11] L. Balan, R.Schneider, D.Billaud and J.Ghanbaja, Materials Letters, 59, 1085, (2005). [12] 王正全,成功大學博士論文,(2001)。 [13] 吳思翰,成功大學博士論文,(2004)。 [14] J. Turkevich, and G. Kirn, Science, 169, 870, (1970). [15] D. V. Goia, and E. Matijevic, New J. Chem, 22, 1203 (1998). [16] 黃政誠,台北科技大學碩士論文,(2002)。 [17] 張聲一,中原大學碩士論文,(2005)。 [18] 曹茂盛,台北,學復文化出版,奈米材料導論,(2002)。 [19] 石川正道,歐資漣譯,台北,普林斯頓國際,奈米科技與產業導論,(2004)。 [20] 張立德,台北,五南,奈米材料,(2002)。 [21] 王世敏,台北,五南,Nanomaterial science and processing technology,(2004). [21] C. C. Koch, Nanostructured materials : processing, properties, and potential applications, (2002). [22] 王世榮,李祥高,劉東志,化學工業出版,表面活性劑化學,(2005)。
第三章 [1] 黃逸仁,中原大學碩士論文,(2005)。 [2] K. K. Nanda, S. N. Sahu, and S. N. Behera, Physical Review A 66, 13208, (2002). [3] K. J. Hanszen, Z. Phys, 157, 523, (1960) [4]Powder diffraction file (JCPDS-International Centre for Diffraction Data), (1960) [5] L. Balan, R. Schneider, J. Ghanbaja, P. Willmann, and D. Billaud, Electrochimica Acta, (2005). [6] 汪建民,材料分析,民全書局,(1998)。 [7] H. S. Nalwa, Handbook of nanostructured materials and nanotechnology, (2000) [8] International Table for X-RAY Crystallograppy, (1969)
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