|
1. M. Grell, D.D.C. Bradley, Adv.Mater. 11,895(1999) 2. M. Hamaguchi, K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys. 34,Part 2,712(1995) 3. R. A. M. Hikmet, D. B. Braun, A. G. J. Staring, H. F. M. Schoo, J. Lub,Int. Patent Appl. WO 97/07654(1995) 4. P. Dyreklev, M. Berggren, O. Inganäs, M. R. Andersson, O. Wennerström, T. Hjertberg, Adv. Mater. 7, 43(1995) 5. T. G.. Knorr and R. W. Hoffman Physical Review. 113,1039(1959) 6. D.O. Smith , J. Appl. Phys. 30, 264s(1959) 7. D.O. Smith, M.S. Cohen, G. P. Weiss , J. Appl. Phys. 31, 1755(1960) 8. L. Abelmann, P. ten Berge, J. C. Lodder, A. Th. J. A. Popma, Jounal of Magnetic Society of Japan. 18, 295(1994) 9. K. Hara, J. Sci. Hiroshima Univ., Ser. A-II 34,139(1970) 10. M. Kamiya, K, Hara, T, Hashimoto, K. Okamoto, H. Fujiwara, J. Phys. Soc. Jpn. 52, 3585(1983) 11. T. Ozue, M. Kondo, Y. Soda, S. Fukuda, S. Onodera, and T. Kawana,IEEE Trans. Magn. 38, 138(2002). 12. A. McIntosh, M. Robertson, K. Robbie, and M. Riehle, European Cells and Materials. 6, 44(2003) 13. A. J. McPhum, Q. H. Wu, and I. J. Hodgkinson, Electron. Lett. 34, 360(1998) 14. R. Hezel, Sol. Energy Mater. Sol. Cells. 74, 25(2002) 15. H. Tokuhisa, M. Era, T. Tsutui, Appl. Phys. Lett. 72, 2639(1998) 16. G. B. Smith, Opt.Commun. 71, 279(1989). 17. D. Vick, L.J. Friedrich, RS.K. Dew, M.J. Brett, K. Robbie, M. Seto, T. Smy Thin Solid Film. 339, 88(1999) 18. L. Abelmann and C. Lodder, Thin Solid Films. 305, 1(1997). 19. H. V. Nguyen, Y. Lu, S. Kim, M. Wakagi, and R. W. Collins, Phys. Rev.Lett. 74,3880 (1995) 20. 李正中, 薄膜光學及鍍膜技術, 藝軒圖書出版社, 台北市, 2004 21. R. S. Sirohi, Appl. Opt. 8, 483(1969). 22. J. W. van der Eb, A. B. Kuz’menko, and D. van der Marel, Phys. Rev.Lett. 86, 3407(2001) 23. B. Hong, M. Wakagi, W. Drawl, R. Messier, and R. W. Collins, Phys. Rev.Lett. 75, 1122(1995). 24. T. E. Tiwald, D. W. Thompson, and J. A. Woollam, J. Vac. Sci. Technol. B6, 312(1998). 25. Y.R. Do, Y. C. Kim, Y.W. Song, Y.H. Lee, J. Appl. Phys. 96, 7629(2004) 26. R.E Anderson, J.R Crawford, Appl Optics, 20,12(1981) 27. J. A. Castellano, Liq. Cryst. Today 1,4(1991) 28. N.C. Greenman, R.H. Friends, Solid State Phys. 49,1(1995). 29. R.H. Friends, R.W.Gymer, A.B.Holmes, J. H. Burroughes, R. N. Marks, C. Taliani,D. D. C.Bradley, D.A. Dos Santos, J. L. Bredas, M. Logdlund, W. R. Slanneck, Nature 11,895(1999) 30. C. W. Tang and S. A. VanSlyke, Appl. Phys. Lett. 51,913(1987) 31. C. W. Tang, S. A. VanSlyke, and C. H. Chen, J. Appl. Phys. 65, 3610(1989) 32. M. Hamaguchi, K. Yoshino, Appl. Phys. Lett. 67, 3381(1995). 33. V. Cimrova, M. Remmers,D. Neher,G.Wegner, Adv. Mater. 8, 146(1996) 34. T. A. Germer, Phys. Rev. Lett. 85, 349 (2000). 35. D. A. G. Bruggeman, Ann. Phys. 24, 635 (1935) 36. G. Beydaghyan, C. Buzea, Y. Cui, C. Elliott, K. Robbie, Appl. Phys. Lett. 87, 153103(2005). 37. I. J. Hodgkinson and Q. H. Wu, Birefringent Thin Films and Polarizing Elements (World Scientific, Singapore, 1997), p. 150 38. Catherine M. Ramsdale and Neil C. Greenham ,Adv. Mater. 14, 212(2002). 39. L.F. Cheng, L.S. Liao, W.Y. Lai, X.H. Sun , N.B. Wong , C.S. Lee ,S.T. Lee Chem. Phys. Lett. 319, 418(2000) 40. I. J. Hodgkinson, Appl. Optics. 30, 1303(1991) 41. W. E. S. Unger, A. Lippitz, C. Wöll, W. Heckmann, Fresenius J. Anal.Chem. 358, 89(1997) 42. D. F. O’Brien, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, Appl.Phys. Lett. 74, 442(1999). 43. S.F. Chung, T.C. Wen, W.Y. Chou, T.F. Guo, JJAP. 45,L60(2006)
|