中文文獻
1.大塚寬治、宇佐美保(原著),郭嘉龍(編譯)”半導體封裝工程,全華科技國書股份有限公司”,2003。
2.王聰銘,錫球合金成分對BGA封裝可靠度之研究,1999。
3.田口玄一,“田口統計解析法=Taguchi's statistical analysis”,1997。
4.田口玄一,陳耀茂譯,田口統計解析法,五南圖書,台北,2003。
5.何宜佳,”台灣IC製造業產業發展現況與趨勢”,工業技術研究院產業經濟與資訊服務中心,2003。
6.李輝煌,”田口方法-品質設計的原理與實務“,高立圖書有限公司,2000。
7.林秀玲,”半導體封裝製程參數設計之研究”,逢甲大學工業工程所,碩士論文,2000。8.林金雀,林金雀,高全德,黃新鉗,林志榮,盧思維,汪若蕙,” IC構裝材料技術及市場發展趨勢專題調查 “,工業技術研究院產業經濟與資訊服務中心,pp. 3-1 ~ 5-40,2002。
9.邱建華,”應用田口方法於電子薄膜配方之最佳製程條件之探討”,中央大學管理學院碩士論文,2001。
10.邱顯光、洪啟超、林鴻志,”半導體電漿蝕刻設備介紹”,電子月刊第四卷第九期,1998。11.洪永祥、黃美玲,電漿清洗製程良率改善之研究,工業工程學刊,2006。
12.孫清華,半導體製造裝置用語辭典,全華科技圖書有限公司, 1999。
13.高孟誠,“氣體電漿誘導表面改質及殺菌處理”,中原大學化學工程所,2003。
14.張家瑋,”錫球和助焊劑標準工程評估方法之研究”碩士論文,國立中山大學機械與機電工程學系半導體封裝測試產業研發碩士專班,2007。15.郭嘉龍,”半導體封裝工程“,全華科技圖書有限公司,2001。
16.陳郁融,”介電質放電對大腸桿菌及枯草芽孢桿菌滅菌效率與機制之初步探討”,中山大學環工所,2011。
17.彭茂榮,”半導體產業發展現況與趨勢”,工研院經資中心ITIS計劃,工業技術研究院 產業經濟與資訊服務中心,2003。
18.楊素芬,“ 品質管理 “,華泰文化事業公司,2002。
19.廖佳柔,”電漿表面親水化對固定結冷膠的影響”,大同大學材料工程研究所,2012。
20.潘國松,” 射頻電漿清洗對改善BGA 封裝體中金線銲接強度之研究 “,成功大學工程科學系所碩士論文,2003。21.鄭崇義,“田口品質工程技術理論與實務”,中華民國品質學會,2000。
22.鍾清章,et al.,”田口式品質工程導論 “,中華民國品質管制學會發行,1990。
23.蘇朝敦,“ 產品穩健設計田口品質工程方法的介紹和應用“,中華民國品質學會,1997。
24.蘇朝墩,品質工程,中華民國品質學會,台北(2008)。
英文文獻
1.B.G. Yacobi, “Semiconductor Materials”,Kluwer Academic Publishers,New York,2004.
2.Barker, T.B., Quality Engineering by Design: Taguchi’s Philosophy, QualityProgress, 1986.
3.Belavendram, N. “Quality by Design Taguchi Techniques for Industrial Experimentation” Prentice Hall, 1995.
4.J.Leu,C.P. Wang, J.L.Prince, W.Nakayama, “Electronics Packaging:Design, materials, Process and Reliability”, McGraw-Hill Inc, 1998.
5.John H. Lau,”Ball Grid Array Technology “, McGraw-Hill Inc., 1995.
6.Lee, C. et al., ”Plasma Cleaning of Plastic Ball Grid Array Package”, Microelectronics Reliability, 1999.
7.Nursel Dilsiz1, Hande Yavuz1, Süleyman Çörekçi2, Mehmet Çakmak3 “Plasma Surface Functionalization of Biaxially Oriented Polypropylene Films with Trimethyl Borate”, Advances in Materials Physics and Chemistry, 2011.
8.Phillip J. Ross, “Taguchi Techniques for Quality Engineering “, McGraw-Hill Inc., 1996.
9.R. Jeyapaul, P. Shahabudeen, K. Krishnaiah.”Quality management research by considering multi-response problems in the Taguchi method – a review”, The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, November 2005, Volume 26.
10.Rao R.Tummala,” Fundamentals of Microsystems Packaging “, McGraw-Hill Inc.,2001.
11.Samuel Kotz and Norman L. Johnson,” Process Capability Indices “, Chapman &
Hall Inc.,1993.
12.The Electronics Industry Outlook for 2004, PRISMARK PARTNERS LLC, 2004/01. ( http://www.prismark.com. )
13.Wood, L., Fairfield, C., and Wang, K., ”Plasma Cleaning of Chip Scale Packages for Improvement of Wire Bond Strength”, International Symposium on Electronic Materials and Packaging,pp.406-408, 2000.
14.Yang, L., Bernstein, J. B., and Leong, K. C., ”Effect of the Plasma Cleaning Process on Plastic Ball Grid Array Package Assembly Reliability “, IEEE Transaction on Electronics Packaging Manufacturing, Vol.25, 2002.
15.Zone-Ching Lin, D.Y. Chang, A Neural Networks Approach Combined with Taguchi's Method for IC Lead frame Dam-bar Shearing Process, Journal of the Chinese Society of Mechanical Engineers Vol.29, No.5, 2008.