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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:馬憲麟
研究生(外文):Hsien-Lin Ma
論文名稱:植球工程站提高錫球表面附著力之研究
論文名稱(外文):The Study of Increasing Solder Ball Adhesive Attraction in Ball placement Process
指導教授:駱景堯駱景堯引用關係
指導教授(外文):Chin-Yao Low
口試委員:黃志剛黃喬次駱景堯
口試委員(外文):Chih-Kang HuangChiao-Tzu HuangChin-Yao Low
口試日期:2014-07-15
學位類別:碩士
校院名稱:國立雲林科技大學
系所名稱:工業工程與管理系
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2014
畢業學年度:102
語文別:中文
論文頁數:70
中文關鍵詞:植球電漿清洗錫球推力錫球拉力田口實驗
外文關鍵詞:Ball PlacementPlasma CleaningSolder Ball Shear TestSolder Ball Pull TestTaguchi method experiment
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本研究以半導體封裝BGA(Ball Grid Array)產品之植球製程前增加電漿清洗製程為實驗對象,針對該個案公司生產過程中利用魚骨圖分析找出關鍵因子,另應用田口方法進行實驗,針對增加錫球於基板上的表面附著力搜尋出一套最佳化的製程參數。針對電漿清洗製程參數進行實驗設計,並且在所有製程參數中,選定四個實驗最重要可控因子,分別為:氧氣(O2)濃度、氬(Ar)濃度、電功率(WATT)以及操作時間(分),運用田口式直交表Taguchi’s orthogonal arrays中L9直交表進行實驗規劃。
本研究收集原有製程參數數據,並實際分析了解產品生產時可能出現的問題,利用田口實驗設計方法,將研究數據以Minitab軟體進行分析,就實驗研究的分析結果,期望能提供給研究對象較佳的製程參數,期望找出產品的最佳的錫球附著強度,依實驗結果為參考以減少產品不良率進而降低生產成本。

This study is using the Cause-and-Effect diagram (fish bone) to analyze and find the key factors for the produce case of semiconductor assembly packaging BGA(Ball Grid Array)product, add plasma cleaning before the ball placement process as experience target. Furthermore, Taguchi method has been applied to search the optimal process parameters with the case of increasing the surface adhesive on substrate for solder ball placement. Through the plasma cleaning process experiment design, we select the most four controllable factors, the Oxygen concentration, the Argon concentration, Consumed Power(Watt/hr) and Operation time(Min) from the process parameters. We have applied the Taguchi’s orthogonal arrays to plan the experiment.
This study has gathered all parameters from the original process, analyzed all possible problems during producing. We have used the Taguchi experiment method to analyze the data with the software Minitab. Based on the analysis result, we are hopping to offer better process parameter of the best surface adhesive on substrate for solder ball placement. Follow our experiment result could decrease the yield rate of defect and reduce the cost.

中文摘要 ------------------------------------------------------------------- i
ABSTRACT ------------------------------------------------------------------ ii
目錄----------------------------------------------------------------------- iii
表目錄 --------------------------------------------------------------------- v
圖目錄 --------------------------------------------------------------------- vi
一、緒論-------------------------------------------------------------------- 1
1.1 研究背景與動機 ----------------------------------------------------- 1
1.2 研究目的 ---------------------------------------------------------- 1
1.3 研究範圍 ---------------------------------------------------------- 1
1.4 研究限制 ---------------------------------------------------------- 1
1.5研究流程 ----------------------------------------------------------- 1
二、文獻探討 ---------------------------------------------------------------- 4
2.1個案公司簡介 -------------------------------------------------------- 4
2.2 IC封裝測試產業關連性------------------------------------------------- 7
2.3 IC產品分類及應用介紹------------------------------------------------- 9
2.4 BGA產品封裝製程主要流程---------------------------------------------- 11
2.5 BGA IC封裝體介紹--------------------------------------------------- 21
2.6 植球原理----------------------------------------------------------- 22
2.7 電漿清潔----------------------------------------------------------- 23
2.8 田口品質工程-------------------------------------------------------- 24
2.9研究工具與實驗方法之相關文獻探討---------------------------------------- 31
三、研究方法 ---------------------------------------------------------------- 33
3.1 實驗產品 ---------------------------------------------------------- 34
3.2 實驗設備儀器 ------------------------------------------------------- 35
3.3 參數設計步驟-------------------------------------------------------- 43
3.4 品質資料收集及要因分析------------------------------------------------ 45
3.5 田口實驗設計-------------------------------------------------------- 47
四、個案的實證與結果---------------------------------------------------------- 50
4.1 確認樣本與品質特性--------------------------------------------------- 50
4.2 最佳化參數---------------------------------------------------------- 56
五、結論與建議 --------------------------------------------------------------- 58
5.1 結論 -------------------------------------------------------------- 58
5.2 為來研究方向-------------------------------------------------------- 58
參考文獻 ------------------------------------------------------------------- 59
中文文獻 -------------------------------------------------------------- 59
英文文獻 -------------------------------------------------------------- 61

中文文獻
1.大塚寬治、宇佐美保(原著),郭嘉龍(編譯)”半導體封裝工程,全華科技國書股份有限公司”,2003。
2.王聰銘,錫球合金成分對BGA封裝可靠度之研究,1999。
3.田口玄一,“田口統計解析法=Taguchi's statistical analysis”,1997。
4.田口玄一,陳耀茂譯,田口統計解析法,五南圖書,台北,2003。
5.何宜佳,”台灣IC製造業產業發展現況與趨勢”,工業技術研究院產業經濟與資訊服務中心,2003。
6.李輝煌,”田口方法-品質設計的原理與實務“,高立圖書有限公司,2000。
7.林秀玲,”半導體封裝製程參數設計之研究”,逢甲大學工業工程所,碩士論文,2000。
8.林金雀,林金雀,高全德,黃新鉗,林志榮,盧思維,汪若蕙,” IC構裝材料技術及市場發展趨勢專題調查 “,工業技術研究院產業經濟與資訊服務中心,pp. 3-1 ~ 5-40,2002。
9.邱建華,”應用田口方法於電子薄膜配方之最佳製程條件之探討”,中央大學管理學院碩士論文,2001。
10.邱顯光、洪啟超、林鴻志,”半導體電漿蝕刻設備介紹”,電子月刊第四卷第九期,1998。
11.洪永祥、黃美玲,電漿清洗製程良率改善之研究,工業工程學刊,2006。
12.孫清華,半導體製造裝置用語辭典,全華科技圖書有限公司, 1999。
13.高孟誠,“氣體電漿誘導表面改質及殺菌處理”,中原大學化學工程所,2003。
14.張家瑋,”錫球和助焊劑標準工程評估方法之研究”碩士論文,國立中山大學機械與機電工程學系半導體封裝測試產業研發碩士專班,2007。
15.郭嘉龍,”半導體封裝工程“,全華科技圖書有限公司,2001。
16.陳郁融,”介電質放電對大腸桿菌及枯草芽孢桿菌滅菌效率與機制之初步探討”,中山大學環工所,2011。
17.彭茂榮,”半導體產業發展現況與趨勢”,工研院經資中心ITIS計劃,工業技術研究院 產業經濟與資訊服務中心,2003。
18.楊素芬,“ 品質管理 “,華泰文化事業公司,2002。
19.廖佳柔,”電漿表面親水化對固定結冷膠的影響”,大同大學材料工程研究所,2012。
20.潘國松,” 射頻電漿清洗對改善BGA 封裝體中金線銲接強度之研究 “,成功大學工程科學系所碩士論文,2003。
21.鄭崇義,“田口品質工程技術理論與實務”,中華民國品質學會,2000。
22.鍾清章,et al.,”田口式品質工程導論 “,中華民國品質管制學會發行,1990。
23.蘇朝敦,“ 產品穩健設計田口品質工程方法的介紹和應用“,中華民國品質學會,1997。
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英文文獻
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3.Belavendram, N. “Quality by Design Taguchi Techniques for Industrial Experimentation” Prentice Hall, 1995.
4.J.Leu,C.P. Wang, J.L.Prince, W.Nakayama, “Electronics Packaging:Design, materials, Process and Reliability”, McGraw-Hill Inc, 1998.
5.John H. Lau,”Ball Grid Array Technology “, McGraw-Hill Inc., 1995.
6.Lee, C. et al., ”Plasma Cleaning of Plastic Ball Grid Array Package”, Microelectronics Reliability, 1999.
7.Nursel Dilsiz1, Hande Yavuz1, Süleyman Çörekçi2, Mehmet Çakmak3 “Plasma Surface Functionalization of Biaxially Oriented Polypropylene Films with Trimethyl Borate”, Advances in Materials Physics and Chemistry, 2011.
8.Phillip J. Ross, “Taguchi Techniques for Quality Engineering “, McGraw-Hill Inc., 1996.
9.R. Jeyapaul, P. Shahabudeen, K. Krishnaiah.”Quality management research by considering multi-response problems in the Taguchi method – a review”, The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, November 2005, Volume 26.
10.Rao R.Tummala,” Fundamentals of Microsystems Packaging “, McGraw-Hill Inc.,2001.
11.Samuel Kotz and Norman L. Johnson,” Process Capability Indices “, Chapman &
Hall Inc.,1993.
12.The Electronics Industry Outlook for 2004, PRISMARK PARTNERS LLC, 2004/01. ( http://www.prismark.com. )
13.Wood, L., Fairfield, C., and Wang, K., ”Plasma Cleaning of Chip Scale Packages for Improvement of Wire Bond Strength”, International Symposium on Electronic Materials and Packaging,pp.406-408, 2000.
14.Yang, L., Bernstein, J. B., and Leong, K. C., ”Effect of the Plasma Cleaning Process on Plastic Ball Grid Array Package Assembly Reliability “, IEEE Transaction on Electronics Packaging Manufacturing, Vol.25, 2002.
15.Zone-Ching Lin, D.Y. Chang, A Neural Networks Approach Combined with Taguchi's Method for IC Lead frame Dam-bar Shearing Process, Journal of the Chinese Society of Mechanical Engineers Vol.29, No.5, 2008.

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