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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:呂天男
研究生(外文):Tian-Nan Lu
論文名稱:利用受挫式內部全反射法及激發表面電漿波組態對食用油中苯駢芘成分之偵測
論文名稱(外文):Using Frustrated Total Internal Reflection Method and Stimulating Surface Plasma Wave Configuration to Ingredients of the Benzopyrene of Edible Oil
指導教授:李正民李正民引用關係
指導教授(外文):Cheng-Min Lee
學位類別:碩士
校院名稱:健行科技大學
系所名稱:電子工程系碩士班
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2016
畢業學年度:104
語文別:中文
論文頁數:41
中文關鍵詞:受挫式內部全反射、Kretschmann組態、Otto組態、表面電漿波、苯駢芘
外文關鍵詞:frustrated total internal reflection、Kretshmann configuration、Otto configuration、surface plasma wave、benzopyrene
相關次數:
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本論文是利用受挫式內部全反射方法及Kretschmann組態與Otto組態中的不同金屬厚度的變化,激發表面電漿波。
本論文主要是利用電腦模擬作研究。上述兩種激發表面電漿波組態所用的光源為632.8(nm)的He-Ne雷射。
研究結果所得,苯駢芘在Kretschmann組態中,當銅薄膜40nm、銀薄膜53nm與金薄膜44nm其表面電漿波共振角吸收深度較佳。苯駢芘在Otto組態中,當銅薄膜130nm、銀薄膜260nm、金薄膜140nm其表面電漿波共振角吸收深度較佳。

This research is the use of frustrated total reflection method and with different thickness of metals in Kretschmann configuration and Otto configuration to stimulate the surface plasma waves.
Using computer simulation is the main point of this research. And the 632.8(nm) He-Ne laser is used as a light source in these two kinds of configurations that have been mentioned above.
The conclusions of this research are just like the following statements: while benzopyrene in Kretschmann configuration, we will get a better depth from the surface plasma wave resonance angle when copper film is 40(nm), silver film is 53(nm) and gold film is 44(nm). And while benzopyrene in Otto configuration, we will get a better depth from the surface plasma wave resonance angle when copper film is 130(nm), silver film is 260(nm) and gold film is 140(nm).


摘  要 i
Abstract ii
誌  謝 iii
目  錄 iv
表目錄 vi
圖目錄 vii
符號說明 ix
第一章 緒論 1
1.1 前言 1
1.2 研究動機與方法 1
1.3 文獻回顧 1
1.4 論文架構 3
第二章 基本理論介紹 4
2.1 光學性質 4
2.1.1 反射 4
2.1.2 斯涅爾定律與折射 5
2.1.3 全反射 6
2.1.4 受挫式內部全反射 7
2.1.5 隧道效應 8
2.2 表面電漿波 9
2.2.1 表面電漿波之色散關係 9
2.3 三層反射率系統公式 12
2.4 激發表面電漿波之耦合組態 13
第三章 模擬參考系統實驗架構 16
3.1 模擬Kretschmann組態參考實驗光路圖 16
3.2 模擬Otto組態參考實驗光路圖 17
第四章 模擬結果 19
4.1 Kretschmann組態:銅薄膜之量測 19
4.2 Kretschmann組態:銀薄膜之量測 22
4.3 Kretschmann組態:金薄膜之量測 24
4.4 Otto組態:銅薄膜之量測 27
4.5 Otto組態:銀薄膜之量測 29
4.6 Otto組態:金薄膜之量測 32
第五章 結論與展望 35
5.1 結論 35
5.2 展望 36
參考文獻 37
簡 歷 41

(1)李正民,「表面電磁波在多層薄膜界面的性質研究」,國立中央大學,碩士論文,民國七十四年。
(2)李正民、劉民鈞、劉舜文‚“利用受挫式內部全反射法於Otto組態激發表面電漿波對氟之研究”‚第十屆現代通訊科技應用學術研討會暨全國大專生資通專題論文研討會‚S1-2‚2012年3月30日.地點:台北城市科技大學。
(3)李正民、鄭育錫、劉舜文‚“利用受挫式內部全反射法於Kretschman組態激發表面電漿波應用於塑化劑之量測”‚第十屆現代通訊科技應用學術研討會暨全國大專生資通專題論文研討會‚S1-4‚2012年3月30日.地點:台北城市科技大學。
(4)李正民、周姵妏、劉舜文‚“利用受挫式內部全反射法於Otto組態激發表面電漿波之木糖醇偵測”‚第十屆現代通訊科技應用學術研討會暨全國大專生資通專題論文研討會‚S1-6‚2012年3月30日.地點:台北城市科技大學。
(5)李正民、劉民鈞、陳冠宇‚“表面電漿波激發組態之金屬厚度變化對氟之共振角影響”‚2012光電與通訊工程研討會‚21‚2012年10月26日‚地點:國立高雄應用科技大學。
(6)李正民、鄭育錫、黃沛晴‚“表面電漿波光學系統對塑化劑之研究”‚2012光電與通訊工程研討會‚22‚2012年10月26日‚地點:國立高雄應用科技大學。
(7)李正民、陳冠宇、鄭育錫、劉民鈞、黃沛晴‚“利用受挫式內部全反射法激發表面電漿波應用鋁測量”‚2012兩岸機電暨產學合作學術研討會‚H03‚2012年11月21日.新竹大華科技大學。
(8)李正民、黃沛晴、鄭育錫、劉民鈞、陳冠宇‚“利用受挫式內部全反射法於Otto組態激發表面電漿波於漂白粉之偵測”‚2012兩岸機電暨產學合作學術研討會‚H02‚2012年11月21日.新竹大華科技大學。
(9)李正民、孫郁興、陳秀文、呂天男、郭建良、陳銅欽,“不同的金薄膜厚度之Kretschmann組態對苯駢芘表面電漿波共振角之研究”, 第六屆新一代代數位科技研討會,2015年11月25日. 地點:醒吾科技大學。
(10)李正民、孫郁興、呂天男、何昇遂,“不同的金金屬薄膜厚度之Kretschmann組態對苯駢芘表面電漿波共振角之研究”,2015年智慧城市與檢測技術研討會 ,2015年6月18日. 地點:健行科技大學。
(11)李正民、孫郁興、呂天男、郭建良、洪振剛,“不同的銀金屬薄膜厚度之Kretschmann組態對苯駢芘表面電漿波共振角之研究”,第五屆航空科技與飛航安全學術研討會,2015年6月12日. 地點:空軍航空技術學院。
(12)張家豪,「利用受挫式內部全反射法及激發表面電漿波光學系統對生理食鹽水共振角量測與分析」,清雲科技大學,碩士論文,民國一百年。
(13)黃沛晴,「利用受挫式內部全反射法及不同金屬的Kretschmann組態對漂白粉激發表面電漿波之研究」,健行科技大學,碩士論文,民國一零三年。
(14)彭逸瑋,「利用表面電漿波生物感測器對尿液中之丙酮研究」,清雲科技大學,碩士論文,民國九十九年。
(15)劉舜文,「利用光受挫式內部全反射法激發表面電漿波研究鹽對純水共振角之影響」,清雲科技大學,碩士論文,民國一百零一年。
(16)陳冠宇,「利用受挫式內部全反射法激發表面電漿波研究不同濃度的碘之共振角」,健行科技大學,碩士論文,民國一零三年。
(17)藍俊明,「利用受挫式內部全反射法於Kretschmann組態激發表面電漿波在石化廢氣對雨水酸化影響之研究」,清雲科技大學,碩士論文,民國九十九年。
(18)Kretschmann, E., Raether, H., “Radiative Decay of Non Radiative Surface Plasmons Excited by Light”, Z. Naturforsch,23a, 2135,1968.
(19)Kretshmann, E., “Die Bestimmung optischer Konstanten von Metallen durch Anregung von Oberflächenplasmaschwingungen,” Z.Phys, 241,313-324, 1971.
(20)Otto, A., “Excitation of nonradiative surface plasma waves in silver by method of frustrated total reflection, ” Z. Phys., 216, 398-410 , 1968.
(21)Ritchie, R. H., “Plasma losses by fast electrons in thin films,” Phys.Rev., 106, 874-881, 1957.

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