|
[1] L. S. Hung, C. W. Tang, and M. G. Mason, Appl. Phys. Lett., 70, 152 (1997). [2] G. E. Jabbour, B. Kippelen, N. R. Armstrong, and N. Peyghambarian, Appl. Phys. Lett., 73, 1185 (1998). [3] V. E. Choong, S. Shi, J. Curless, and F. So, Appl. Phys. Lett., 76, 958 (2000). [4] C. W. Tang and S. A. VanSlyke, Appl. Phys. Lett., 51, 913 (1987). [5] W. Helfrich and W. G. Schneider, Phys. Rev. Lett., 14, 229 (1965). [6] J. Dresner, RCA Rev., 30, 322 (1969). [7] D. F. Williams and M. Schadt, Proc. IEEE, 58, 476 (1970). [8] C. Adachi, S. Tokito, T. Tsutsui, and S. Saito, J. J. Appl. Phys., 27 L269 (1988). [9] C. Adachi, S. Tokito, T. Tsutsui, and S. Saito, J. J. Appl. Phys. 27 L713 (1988). [10] C. Adachi, T. Tsutsui, and S. Saito, Appl. Phys. Lett., 55, 1489 (1989). [11] C. Adachi, T. Tsutsui, and S. Saito, Appl. Phys. Lett., 57, 531 (1990). [12] J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Bums, and A. B. Holmes, Nature, 347, 539 (1990). [13] S. A. VanSlyke, C. W. Tang, and L. C. Robert, U. S. Pat. No. 4,720,432 (1988). [14] P. E. Burroughes and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett., 64, 2285 (1994). [15] L. Do, E. Ham, N. Yamamoto, and M. Fujihira, Mol. Cryst. Liq. Cryst., 280, 373 (1996). [16] S. A. VanSlyke, C. H. Chen, and C. W. Tang, Appl. Phys. Lett., 69, 2160 (1996). [17] T. Enokida, M. Tamano, and S. Okutsu, U. S. Pat. No. 5,759,444 (1998). [18] T. Enokida, M. Tamano, S. Okutsu, and T. Onikubo, U. S. Pat. No. 5,948,941 (1999). [19] N. X. Hu, S. Xie, B. S. Ong, Z. D. Popovic, A. M. Hor, and P. Liu, U.S. No. 5,891,587 (1999). [20] K. Yamashita, T. Mori, T. Mizutani, H. Miyazki, and T. Takeda, Thin Solid Films, 363, 33 (2000). [21] H. Kawamurs, H. Nakamura, and C. Hosokawa, U. S. No. 6,074,734 (2000). [22] Y. Hamada, T. Tsutsui, H. Fujii, Y. Nishio, H. Takahashi, and K. Shibata, Appl. Phys. Lett., 71, 23 (1997). [23] J. Kido, T. Uemura, H. Kimura, N. Okuda, N. Ueba,Y. Okuda, and H.Osaka, U. S. Pat. No.5,792,567 (1998). [24] T. Sano, Y. Hamada, and K. Shibata, U.S. Pat. No. 5,779,937 (1998). [25] W. B. Kang, N. Yu, A. Tokida,T. Potrawa, and A. Winterfeldt, U. S. Pat. No. 5,919,579 (1999). [26] G. Gustafsson, Y. Cao, G. M. Treacy, F. Klavetter, N. Colaneri, and A. J. Heeger, Nature, 357, 477 (1992). [27] J. Kido, K. Hongawa, K. Okuyama, and K. Nagai, Appl. Phys. Lett., 62, 3238 (1993). [28] T. Fukuda, T. Kanbara, T. Yamamoto, K. Ishikawa, H. Takezoe, and A. Fukuda, Appl. Phys. Lett., 68, 2346 (1996). [29] M. A. Baldo, D. F. Brlen, and S. R. Forrest, U. S. Pat. No. 6,097,147 (2000). [30] S. Miyata and H. S. Nalwa, Organic Electroluminescent Materials and Devices, Gordon and Breach Science Publishers, Chap.8 (1997). [31] J. Shi and C. W. Tang, Appl. Phys, Lett., 70, 1665 (1997). [32] Y. Mamada, T. Sano, K. Shibata, and K. Kuroki, Jap. J. Appl. Phys., 34, L824 (1995). [33] S. Miyata and H. S. Nalwa, Organic Electroluminescent Materials and Devices., Gordon and Breach Science Publishers, Chap.9 (1997). [34] J. Kido and T. Mizukami, U. S. Pat. No. 6,013,384 (2000). [35] C. H. Chen, C. W. Tang, J. Shi, and K. P. Klubek, U. S. Pat. No. 6,020,078 (2000). [36] M. E. Thompson, S. R. Forrest, and P. Burrows, U. S. Pat. No. 6,048,630 (2000). [37] Y. Hamada, H. Kanno, T. Tsujioka, H. Takahashi, and T. Usuki, Appl. Phys. Lett., 75, 1682 (1999). [38] L. S. Hung and C. W. Tang, Appl. Phys. Lett., 74, 3209 (1999). [39] Z. L. Zhang, X. Y. Jiang, S. H. Xu, T. Nagatomo, and O. Omoyo, Synthetic Metals., 91, 131 (1997). [40] S. R. Forrest, P. Burrows, M. E. Thompson, and V. Bulovic, U. S. Pat. No. 5,998,803 (1999). [41] V. Bulovic, G. Gu, P. Burrows, S. R. Forrest, and M. E. Thompson, Nature, 380, 29 (1996). [42] V. Bulovic, S. R. Forrest, P. Burrows, and D. Z. Garbuzov, U. S. Pat. No. 5,834,893 (1998). [43] V. Bulovic, S. R. Forrest, P. Burrows, and D. Z. Garbuzov, U. S. Pat. No. 6,046,543 (2000). [44] G. Gu, V. Khalfin, and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett., 73, 2399 (1998). [45] P. Burrows and S. R. Forrest, U. S. Pat. No. 5,917,280 (1999). [46] Z. Shen, S. R. Forrest, and P. Burrows, U. S. Pat. No. 5,932,895 (1999). [47] J. Kido and T. Matsumoto, Appl. Phys. Lett., 73, 2866 (1998). [48] Y. Sato, S. Ichinosawa, and H. Hanai, IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, 4, 40 (1998). [49] F. Papadimitrakopoulos, X. Zhang, D. L. Thomsen, and K. A. Higginson, Chem. Mater., 8, 1363 (1996). [50] H. Aziz, Z. Popovic, S. Xie, A. M. Hor, N. X. Hu, C. Tripp, and G. Xu, Appl. Phys. Lett., 72, 756 (1998). [51] P. E. Burrows, V. Bulovic, S. R. Forrest, L. S. Sapochak, D. M. McCarty, and M. E. Thompson, Appl. Phys. Lett., 65, 2922 (1994). [52] J. McElvain, H. Antoniadis, M. R. Hueschen, J. N. Miller, D. M. Roitman, J. R. Sheets, and R. L. Moon, J. Appl. Phys., 80, 6002 (1996). [53] H. Aziz, and G. Xu, J. Phys. Chem. B, 101, 4009 (1997). [54] H. Aziz, Z. Popovic, C. Tripp, N. X. Hu, A. M. Hor, and G. Xu, Appl. Phys. Lett., 72, 2642 (1998). [55] M. Probst and R. Haight, Appl. Phys. Lett., 70, 1420 (1997). [56] G. Binnig, C. F. Quate, and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett., 56, 930 (1986). [57] D. Briggs and J. C. Riviere, Spectral interpretation, Practiccal surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy, New York, 85-139, (1984). [58] C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, J. F. Moulder, and G. E. Muilenberg, Handbook of X-Ray Photoelectron Spectroscopy, Perkin-Elmer Corporation, Minnesota, 1979. [59] J. Kido and T. Matsumoto, Appl. Phys. Lett., 73, 2866 (1998). [60] T. Matsumoto, T. Nakada, J. Endo, K. Mori, N. Kawamura, A. Yokoi and J. Kido:IDMC’03, 413 (2003).
|