臺灣博碩士論文加值系統

近年來科技發展一日千里，各種工業產品的精度要求均大幅地提高，加工零件的精度要求，已到達微米（μm）境界。為了測量這些精密零件，相對地也發展出高精度的精密量具，用以測量精密加工的零件。近幾年，三次元座標量測儀在表面量測上佔有很大的優勢。這些經由量測而得到的量測點數據，可以用來分析工件的幾何特性，如真平度。並且再來檢測這些由工件上所量測出來的資料，是否符合為平面所訂的規格內。
本研究中，我們針對Hammersley序列、Halton-Zaremba序列和位準系統行列等三種抽樣方式進行比較，並且以數學模式來表示各工件之量測點，透過試驗找出最佳的量測點數與抽樣方法。再將所求出之最佳抽樣方法與量測點數進行三次元量測平面度之重複性與再現性(GR&R)分析。

Today, industrial parts need more accurate dimensions for manufacturing processes than those in the past. These industrial parts with high precision need more reliable and accurate measuring equipments to do the measurement tasks for quality control. Coordinate measuring machines have been predominatly used to generate measurement points for a surface. The measurement data are analyzed to yield geometric tolerance information for the surface features such as flatness. With the availability of tolerance information, it is necessary to check if the surface is within the specifield limit.
In this paper, I compare the effectiveness of Hemmersley sequence sampling, Halton-Zarmba sequence sampling and the Aligned systematic sampling. The mathematical model is used for the measuring points of the workpiece. The experiment is used to find the optimal number of measuring points and an appropriate sampling method to measuring coplanarity with Gage Repeatability and Reproducibility analysis.

目錄

封面內頁
簽名頁
授權書 iii
中文摘要 iv
英文摘要 v
誌謝 vi
目錄 vii
圖目錄 x
表目錄 xi

第一章 緒論 1
1.1 研究動機 1
1.2 研究目的 2
1.3 研究之重要性 3
1.4 研究方法 3
1.5 研究架構 4
1.6 研究限制 4
第二章 三次元座標測量儀及GR＆R介紹 6
2.1 三次元座標量測儀的原理 6
2.2 三次元座標量測儀構成要素 6
2.3 三次元量床的驅動形式及其測長系統 7
2.3.1 三次元量測的導引方式 7
2.3.2 三次元量測儀之驅動方式及其驅動馬達型式 9
2.3.3 三次元量測儀測長系統 10
2.4 三次元座標量測儀的分類 11
2.5 三次元量測儀之探頭 14
2.5.1 機械式探頭 15
2.5.2 觸發式探頭 15
2.5.3 掃描式探頭 16
2.6 三次元量測座標儀量測程序 17
2.7 量具之重複性與再線性介紹 18
2.8 幾何公差 19
第三章 文獻探討 22
3.1 CMM量測能力研究 22
3.2 量測路徑方面 22
3.3 量測點數與量測點位置方面 23
3.4 物件特性 23
3.5 量具之重複性與再線性 24
第四章 研究方法 26
4.1 量測工件介紹 26
4.2 CMM量測能力 27
4.3 Hammersely sequence sampling 29
4.4 Aligned systematic sampling 32
4.5 Halton-Zaremba sequence sampling 32
4.6 GR＆R實驗步驟 35

第五章 實驗結果 36
5.1 實驗室設備與環境 36
5.2 CMM量測能力實驗數據分析 38
5.3 Hammersely sequence sampling 42
5.4 Aligned systematic sampling 45
5.5 Halton-Zaremba sequence sampling 46
5.6 抽樣量測結果比較 48
5.7 GR&R實驗 49
第六章 結論 52
6.1 結論 52
6.2 建議 52
參考文獻 54

參考文獻

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