在電路偵錯上由於基本元件特性上的差異，一般區分為數位電路及類比電路兩種。數
位電路的偵錯由於本上是0 與1 的變化，處理上較為單純化，因此截至目前為止已獲
至相當成果。在類比電路上由於元件本身特性不易像數位元件那麼規則化，處理上自
有其先天上的困難存在。
本論文的重點即在如何選擇測試點，而不在分析方法之探索。
在類比電路偵錯系統中，選用的分析方法深深影響偵錯的效果。而一旦分析方法選定
後，所選取的測試點又影響到整個偵錯過程的效率及偵錯率。本論文即是針對某一特
定之分析方法，來研究適合於該分析方法的測試點選擇程序。本文中共提出了兩種方
法，均適用於線性及非線性電路的測試點選擇。兩種方法之優劣亦在本論文中加討論
。