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研究生:吳憶憶
研究生(外文):Wu, Yi-Yi
論文名稱:類比偵錯系統之測試點選擇法
指導教授:吳傳嘉李肇嚴
指導教授(外文):Wu, Zhuan-JiaLi, Zhao-Yan
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:電機工程研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
畢業學年度:71
語文別:中文
中文關鍵詞:類比偵錯系統測試點選擇法偵錯率數位電路類比電路電機工程
外文關鍵詞:ELECTRICAL-ENGINEERING
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在電路偵錯上由於基本元件特性上的差異,一般區分為數位電路及類比電路兩種。數
位電路的偵錯由於本上是0 與1 的變化,處理上較為單純化,因此截至目前為止已獲
至相當成果。在類比電路上由於元件本身特性不易像數位元件那麼規則化,處理上自
有其先天上的困難存在。
本論文的重點即在如何選擇測試點,而不在分析方法之探索。
在類比電路偵錯系統中,選用的分析方法深深影響偵錯的效果。而一旦分析方法選定
後,所選取的測試點又影響到整個偵錯過程的效率及偵錯率。本論文即是針對某一特
定之分析方法,來研究適合於該分析方法的測試點選擇程序。本文中共提出了兩種方
法,均適用於線性及非線性電路的測試點選擇。兩種方法之優劣亦在本論文中加討論


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