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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:許渭州
研究生(外文):Xu, Wei-Zhou
論文名稱:深能階暫態系統之研究
指導教授:張俊彥
指導教授(外文):Zhang, Zun-Yan
學位類別:博士
校院名稱:國立成功大學
系所名稱:電機工程研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1984
畢業學年度:73
語文別:中文
論文頁數:100
中文關鍵詞:深能階暫態系統暫態系統暫態電場電機工程
外文關鍵詞:ELECTRICAL-ENGINEERING
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本論文分為兩部分,其中一部分為深階暫態(DLTS)系統之自動化及測量方法之改良
,另一部分為雙陷阱之物理分析。
在系統改良方面,本文利用Apple Ⅱ微電腦作為控制及處理的樞紐,將DLTS系統自動
化,取代傳統方法中人工操作及計算;並設計IEEE-488介面,作為溝通微電腦和儀器
的橋樑,其可靠度高,速度快,成本低,藉著此介面,實驗參數如溫度之範圍及升溫
速度,電容刻度,脈衝頻率,幅度和寬度,速率窗之設定,雜訊之消除,以及數據之
計算等皆能經由硬體或軟體自動控制及處理。其優點為節省大量之時間,控制系統部
分之成本大幅降低,節省人力,並增加測試之準確度。
此外,本文利用頻譜分析儀將放射速率以簡單之公式求出,免除傳統上設定速率窗需
經數次熱掃描的時間及不便。另外亦利用數位化儀取樣取樣電容暫態,並以數值分析
法直接算出放射速率;在計算陷阱能階時比傳統方法節省很多時間。
在研究陷阱特性方面,本文對不同分子束磊晶系統成長的n 型砷化錠同時做了分析與
比較。其中系統A 的樣品測Eo-0.37ev 的電子陷阱,其放射速率隨電場之增加而有加
強的趨勢,根據Poole-Frenkel 效應,此陷阱可能為施體型陷阱。而在系統B 的樣品
研究中則有相反的結果,亦即其兩個陷阱Ec-0.40ev 和Ec-0.50ev 之放射速率因電場
的增加而減少;而Ec-p.40ev 對電場之效應較弱,而Ec-0.50ev 則對電場有較強之效
應。
另外,本文利用系統B 中所測出的陷阱對電場的強弱效應,根據佔有函數,建立一套
陷阱互相作用(Interaction )的理論,同時能解釋兩個接近的陷阱在不同電場下其
互相捕捉能力的消長,以及由於互相作用產生的電容暫態延遲現象,並由理論與實體
得到互相印證。
目錄
圖目錄
摘要
第一章 導論
第二章 DLTS理論介紹
2-1 電容暫態效應
2-2 速率窗觀念
2-3 陷阱能階
2-4 捕捉截面
2-5 深陷阱之濃度及其分布
2-6 綜合討論
第三章 自動DLTS測試系統之設計與建立
3-1 傳統DLTS系統
3-2 微電腦控制之DLTS系統
第四章 測試方法之研究
4-1 傳統方法之缺點
4-2 頻譜分析儀(Spectrum Analyzer)
4-3 數值分析法
4-4 綜合討論
第五章 陷阱間之互相作用及其物理現象分析
5-1 研究目的
5-2 樣品之準備
5-3 放射及捕捉速率之電場效應分析
5-4 雙陷阱之濃度分佈
5-5 雙陷阱之佔有函數(Occupation Function)
5-6 雙陷阱在互相影響下之行為
5-7 綜合討論
第六章 結論
參考文獻
謝誌
附錄
英文摘要
口試合格證明
研究生個人資料
圖表
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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