光學統之資料讀入都是以光束掃瞄而取得,如果掃瞄速度不均勻,使會造成資料的錯 誤或測量的不準確,因此掃瞄器(SCANNER )的掃瞄速度是光學系統中一非常重要的 因素,本文的目的即在度量一雷射掃瞄測量儀的掃瞄速度。然後可將其速度的變化以 回饋的方式送回測量儀的微處理機以提高其精確度,研究方法為將掃瞄光束以光罩( MASK)遮住,僅容一狹縫(約0.5mm)的光束通過則掃瞄過此狹縫的光速度愈快 則通過狹縫的光時間愈短,以一TIME TO AMPLITUDE CONVERTER 接于光檢測器(PHOT O DETECTOR)上,則可將時間轉換為振幅。然後再以MUCTI-CHANNEL ANALYEER解析此 振幅,移動狹縫就可得每一不同處的速度,此一速度若以其通過透鏡中心為準,則為 一與距離成六次方關係的函數: (圖表省略)
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