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研究生:高大為
研究生(外文):GAO, DA-WEI
論文名稱:利用電子雷射斑點圖形干涉儀測量物體應變
指導教授:張明文張明文引用關係
指導教授(外文):ZHANG, MING-WEN
學位類別:碩士
校院名稱:國立中央大學
系所名稱:光電(科學)研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1986
畢業學年度:74
語文別:中文
中文關鍵詞:電子雷射雷射圖形干涉儀圖形干涉儀測量物體應變
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本文首先介紹電子雷射斑點圖形干涉儀,而主要著重在利用之測量應變。
在光學方面將利用一平板玻璃把入射波前經第一面及第二面的反射,分成兩個具有橫
向切移的波前,以攝影機收集,在感光面上記錄下含有微分訊息的影像,進而處理出
應變(位移微分)的分佈。
(1)本系統裝置簡單,不需要複雜的調整(alignment)。
(2)由於光程近乎相等,相干性的要求降低。
(3)系統具有可週的靈敏度。
(4)直接顯示應變分佈而不需要經過微分運算過程。
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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