本文所探討的問題，乃是以三角投影測量法為基礎，所發展出來的二維掃瞄測厚系統
；使用的是以紅外線雷射二極體為光源，一個四象限位置感測器及其處理電路，再連
結電腦而成一完整系統。
本文所有掃瞄理論皆建立在平面幾何上，不考慮任何鏡片的像差。文中除了對感測器
本身的非線性響應有所探討以外；也說明了利用建立掃瞄平面檔案的方法，來量待測
物的厚度，以消除非線性響應所引起的誤差，藉此提出高系統的精確度。系統中是利
用單一光源，兩個轉軸互相垂直的平面鏡來做二維掃瞄，相當經濟。
本系統除了有一般光學系統的特點，如非接觸性、非破壞性、精密度佳之外，且價格
便宜，彈性運用大，可做生產線上成品或半成品的厚度測量，更可以經由電腦直接回
受控制生產機具，使產品符合標準，達到自動化的要求。
參考資料：
１‧Donald C. O' Shea 〞Elements of Modern Optical Design〞
２‧〞運算放大器導論〞 Luces M. Faulkenberry著孫德陽譯
３‧〞DT２８０１ SERIES〞手冊
４‧〞光學式線上測厚系統〞中央大學光電研究所碩士論文 吳季樺
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