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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:陳燦輝
研究生(外文):CHEN, CAN-HUI
論文名稱:測試樣本評估器
論文名稱(外文):A fault grader
指導教授:馮武雄馮武雄引用關係林呈祥林呈祥引用關係
指導教授(外文):FENG, WU-XIONGLIN, CHENG-XIANG
學位類別:碩士
校院名稱:國立臺灣大學
系所名稱:電機工程研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1987
畢業學年度:75
語文別:中文
中文關鍵詞:樣本評估器程武
外文關鍵詞:PLA 電路AUL 電路MULTIPLITE電路PROGRAMPLA-CIRCUITAUL-CIRCUITMULTIPLITITE-CIRCUIT
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1‧研究目的:研製一個測試樣本評估器。
2‧資料來源:(1)IEEE‧Transition on Computer
(2)Design Automatic Conferent
(3)IEEE Design and Test
(4)Test Conferent
3‧研究方法:發展定理,並實際寫一套程式以驗証之。
4‧研究結果:我們已經成功地測試過各種電路,如Pla,AUL及multiplite,結果顯
示本評估器的時間複雜度大約是O(n),n是電路gat的數目。

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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