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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:陳明德
研究生(外文):CHEN, MING-DE
論文名稱:超大型積體數位電路之故障模擬器
論文名稱(外文):ACCEPT:a fault simulater for VLSI digital circuits
指導教授:李崇仁李崇仁引用關係沈文仁
指導教授(外文):LI, CHONG-RENSHEN, WEN-REN
學位類別:碩士
校院名稱:國立交通大學
系所名稱:電子研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1988
畢業學年度:76
語文別:中文
論文頁數:70
中文關鍵詞:超大積體數位電路故障模擬器定值故障傳輸閘轉變延遲故障序向電路
外文關鍵詞:FAULT-SIMULATORSTUCK-AT-FAULTSTRANSMISSION-GATETRANSITION-DELAYFAULTSSEQUENTIAL-CIRCUITS
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在當前高科技電子的測試領域中,故障模擬器(Fault simulator )已成為一個不可
或缺的重要應用軟體,因此發展一個具有高效率的故障模擬器遂成為電腦輔助測試學
域的首要課題。
本篇論文即在陳述一個新式故障模擬器的原理、架構及其實驗結果。該模擬器乃針對
一超大型積體組合電路而設計,除可模擬傳統的定值故障(Stuck-at faults )及傳
輸閘(Transmission gate )故障,更引進了轉變延遲故障(Transition delay fa-
ults)的觀念與模擬法則。該模擬器兼具順向模擬器的精確性與逆向評估器的快速性
--兩大特點。由實驗十個測試之標準範例電路中,可顯示該模擬器程式較一般傳統
之故障模擬器具有更高的效率。
本篇論文後則針對一般傳統之序向電路(Sequential circuits )提述定值故障的模
擬法則,同時亦發展出振盪控制的解決新法,並以實例為之說明與驗證。
此故障模擬器以C 語言寫成,並建立於SUN3 工作站的UNIX作業系統上。

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