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研究生:魏文晴
研究生(外文):WEI, WEN-GING
論文名稱:發展電漿原子發射光譜儀與電熱氣化裝置的連接技術應用於環境及材料樣品中之微量元素分析
指導教授:楊末雄楊末雄引用關係
指導教授(外文):YANG, MO-XIONG
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:原子科學研究所
學門:工程學門
學類:核子工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1988
畢業學年度:76
語文別:中文
中文關鍵詞:電漿原子光譜儀微量元素基質效應霧化器氣化效率靈敏度
外文關鍵詞:NEBULIZER
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ICP-AES 是現代分析儀器中極為重要的一種,它具有快速、靈敏、多元素測定甚小基
質效應的特點。然而一般商業化的ICP-AES 儀器,由於係以霧化器(Nebulizer )做
為樣品導入的工具,其氣化 效率低,以致使有效被傳送到電漿激發源的樣品僅約為
原來樣品的1%程度,因此大幅降低ICP-AES 應有的靈敏度。
為提昇ICP-AES 的靈敏度,本研究以ICP-AES 樣品導入效率的改進為重點作系列的探
討。建立電漿原子發射光譜儀與電熱化裝置的連接技術(ETV-ICP/AES),使樣品經
電熱裝置氣化後,直接導入ICP-AES 作光譜測定。本研究中曾將實驗室中現有的碳爐
式電熱氣化裝置與同時式及連續式兩種ICP-AES 分別進行組合,並對兩套組合儀器系
統的最佳操成條件及可能造成分析誤差的因素作詳盡的探討。在所建立的分析條件下
,實驗所得各元素的偵測極限可較一般經由噴霧步驟測得者降低1至2階,均可低達
Sub-ng的程度,大致已能符合環境及材料樣品超微量元素分析的目標。
本研究並以所建立的系統實際應用於矽半導體、水及米樣品中微量元素的分析。樣品
分析時所建立的基質效應以標準添加法做校正,或以化學分離法將基質分離後再做測
定。分析結果的可靠性均藉由NBS 標準參考樣品作確認,由測定值與確認值相互一致
的事實,證實本分析技術確具有實際應用的可行性。

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