由於積體電路的發展，愈來愈趨向於高密度化，使得要測試電路是否有障礙發生的問
題變得愈來愈困難，要產生測試樣本所需的時間也變得更久。於是，為了能更快速、
有效地產生測試樣本，有某些測試產生技巧被使用在測試樣本產生器中期望能加快產
生測試樣本的速率。但是關於這些測試產生技巧對於測試樣本產生器，倒底會有多大
的幫助？而每種測試產生技巧它的效能又是如何？直到目前為止，都缺乏一個定量的
分析。
於是，在我的論文中，設計了一個測試檥本產生器，然後可對言些測試產生技巧做定
量的分析進而獲得新的測試策略，可提高測試漾本產生器的效率。此外，在我的論文
中，也提出了一個改良的多重路徑障礙感知的作法，可增快產生測試樣本的速度。而
我的測試樣本產生器、和台灣大學電機系研究所計算機輔助設計實驗室的LSSD測試工
具和電路障礙模擬器（NTUFG） ，整合成一個完整的自動測試系統。
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