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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:黃大海
研究生(外文):HUANG, DA-HAI
論文名稱:串接簽字分析與變值計數中注入位元的壓縮測試法
論文名稱(外文):Compact testing by bits implantation between signature analysis and transition count
指導教授:王駿發劉濱達
指導教授(外文):WANG, JUN-FALIU, BIN-DA
學位類別:碩士
校院名稱:國立成功大學
系所名稱:電機工程研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1989
畢業學年度:77
語文別:中文
論文頁數:61
中文關鍵詞:串接簽字分析變值計數壓縮測試法積體電路特徵多項式錯誤偵測特殊輸出型式
外文關鍵詞:LFSR
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一、研究目的:由於最近積體電路日益精進,電路精密已使得測試工作變得越來越困
難,相對測試信號的數目也就越來越多。如何將一長串輸出的反應資料,利用某種函
數轉換或多項式除法轉換來得到較小的資料空間,然後用此較小的資料值來做為測試
參考值。因為壓縮的緣故,會產生一些測不到的障礙,也就是把原本錯誤的,視為正
常的。所以,如何減少這些障礙是吾人所迫切須要。
二、研究方法:利用多項式除法來對某特定待測反應輸出求得特微多項式LFSR(LINE
-AR FEEDBACK SHIFT REGISTER ),使得LFSR的輸出型式易於設計和方便測試,並且
讓所設計出的商式測試電路達到百分之百錯誤偵測率。此外,對於如何設計出LFSR的
特殊輸出型式,則在本篇論文也有詳細的討論與概率分析。
三、結果與檢討:我們發展一套可規劃壓縮測試系統。它是由LFSR與計數轉換TC(T-
RANSITION COUNT )組合成,另加額外兩個位元10於LFSR和TC之間。吾人將此一可
規劃壓縮測試系統建立在SUN 工作站上,寫成一程式。
只要將待測電路的輸出反應位元串列,從鍵盤輸入,即可得到下列四組資料:
1.LFSR多項式內容。
2.LFSR餘式的正確值。
3.插入10的正確位置。
4.TC轉換的正確位置值。
所以,只要改變上列四組資料值,便可以用在不同的待測電路上做壓縮測試。
四、重要成果簡述:
A. 對LFSR特殊型輸出做概率分析。
B. 特徵多項式LFSR設計程式的完成。
C. 不同壓縮測試法的錯誤偵測率曲線比較圖。

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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