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電子斑點圖型干涉術（Electronic Speckle Pattern Interferometry ），簡稱ESPI
，是一種光學式非破壞性檢測技術，可用於物體殘留應力之量測；以及量測振動物體
的特性，如振幅、振動模態（mode）等等。本篇目的在於嘗試有別於原實驗所用的另
一種技術和理論，從事振幅與振動模態量測，而將實際所一時結果呈現眼前，驗證其
確為可行。
此方法與原實驗所用方式之主要差異在於影像處理部份，捨棄早先所用的高通濾波及
全波整流兩個步驟來處理單一畫面，而改成用相位分別為0 和π的兩個畫面彼此相減
，經過此種處理，將可有效消除許多因同調光源互相干涉所造成之光學雜訊。文中舉
出兩種振動體的測試結果，並繪成頻率－振幅曲線，藉此分析及說明其意義。
其次尚有一項重點，是整個系統也做了改進，也就是在參考光部份，係以難裝設的球
面波參考光取代原先使用之斑點參考光，因為如此將得到更清晰之條紋，最適合作大
面積物體量測；而且若欲從事振動體表面相依分佈之量測，此亦是必要條件。又系統
中尚且嘗試利用單模光纖，取代相當多的光學元件。一方面簡化系統構造，同時降低
光能損耗，可以有效提高雷射能量利用率。
參考文獻：
1.K. Creath, G. A. Slettemoen, "Vibration-observation Technique for
Digital Speckle Pattern Interferometry". J. Opt. Soc. Am. A 2, 1629-1636
(1985)
2.G. A. Baxs, Digital Image Processing. Prentice-Hall Inc. New Jersey
(1984)
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