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研究生:黃允熙
研究生(外文):Huang, Yun-Xi
論文名稱:一功能層次之可測試性度量
論文名稱(外文):A functional level testability measure
指導教授:李崇仁李崇仁引用關係
指導教授(外文):Li, Chong-Ren
學位類別:碩士
校院名稱:國立交通大學
系所名稱:電子研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1991
畢業學年度:78
語文別:中文
論文頁數:58
中文關鍵詞:功能層次可測試性度量超大型積體電路故障涵蓋率基本元件匯流排等效電路電子工程
外文關鍵詞:ELECTRONIC-ENGINEERING
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超大型積體電路可測試性分析,是一項有用的輔助工具。對設計者而言,它可以預估
在隨機測試圖樣下,電路中的故障涵蓋率,以及指出不容易被測試到的區域。另一方
面,許多自動測試圖樣產生系統均運用可測試性分析做為經驗法則,來引導故障效應
的傳送和測試值的設定。然而,傳統可測試性分析方法的應用範圍,僅限於邏輯閘電
路。這樣的作法,已不能配合現在以功能性模組為基本元件的設計環境。本論文的主
要訴求,即在於提出適用於功能層次電路的可測試性分析方法。
在本論文中,我們將功能層次的電路,以功能性元件及其相互連接的匯流排或信號線
來表示。我們討論的可測試性,區分為可控制性及可觀察性兩種度量,分別代表設定
功能層次電路中,匯流排上任一信號線為特定邏輯值的機率,以及當匯流排上,任一
信號線的邏輯值發生變化時,在整個電路主要輸出端觀察到此種變化的機率。我們依
照對功能性元件的分類及定義,運用二階邏輯等效電路來表示它們輸入與輸出間的運
算關係,建立了完整的可控制性及可觀察性自動計算方法,並進一步討論在二階邏輯
模型下,重合性扇出造成的影響。
依照本論文提同的計算法則,我們以C 語言制作了功能層次電路的可測試性分析程式
,並將其應用於故障涵蓋率的預估,以及指出電路中不易被測試到的區域。論文中展
示了對六個功能層次電路分析的結果。
為了驗證本論文所提出之功能層次可測試性分析方法的效能,我們將功能層次電路展
開成邏輯閘電路後,實際進行故障模擬,與預估的數值比較。實驗的結果顯示,估計
的數值與故障模擬值相當吻合。此外,我們還探討當功能層次電路中,匯流排寬度增
大時,執行可測試性分析所需要的計算時間。

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