當我們要估計某一電子產品的壽命分配時, 我們通常會抽取一些相同規格的電子產品
來做實驗并觀察其壽命之長短, 再將觀察到的資料用來估計該產品的壽命分配(lifed
-istribution) 但在正常的壓力(stress)之下, 該產品可能會存活相當長以致我們必
須花費很多時間去搜集資料, 因此為考慮時間與經濟效益之原則下, 若我們知道在正
常情況下這些產品的壽命分配與加速后產品的壽命分配之間有某種關系存在, 例如in
-verse power rule model,Arrhenius rate model,Eyring model(其可參考Mann, Nu
ncy,R.& Singpurwalla Nozer D.& Schafer,Ray E.(1974) 課本第九章中有詳細的介
紹),則我們便可以加速壽命測試(accelerated life test) 和設限資料(censored da
ta) 來預估正常情況下該電子產品的壽命分配。
雖然我們利用較高的壓力水準(Stress level)可以加速產品的壽命, 可能會導致增加
成本而且未必能有效地縮短樣本死亡之間的時間, 有鑑於此, 我們利用Wayne Nelson
(1980),Shaked 和Singpurwalla(1983),Ncnithols,D.T.& Padgett,W.J.(1988) 之逐
步加壓加速壽命測試(step-stress accelerated life test) 方法來解決該缺點, 以
合節省時間與經濟效益之原則。
本篇論文, 我們主要在探討逐步加壓加速壽命測試與聯合第二型設限資料下參數的最
大概似估計式進而去探討其統計性質, 如一致性(consistency) 及其漸進分配(asymp
-totic distribution)。