從過去的文獻中得知，如果在雷生衰退通道(Rician fading channel) 上使用理想的
交插技術(ideal interleaving)，對於格狀調變碼(trellis modulation code) 的選
用標準乃是選擇有效碼長(effective code length) 最大者；當兩個碼的有效碼長相
同時，則選取距離積(coro-duct distance)較大的碼。如果沒有使用交插技術，假設
通道的衰退情形相當緩慢，以致於在每一個第一錯誤事件(first error event) 中的
衰退程度均相同，則選擇free distance 較大者。
事實上，交插深度一定是有限的，而且究竟深度要取多少才能達到理想效果，也是很
難定得出來。另外，衰退情形也不可能慢到每一個第一錯誤事件均相同。於是在固定
波包(envelope)訊號的假設下，我們對於雷烈(Rayleigh)衰退通道提出了一個新的模
型，將通道的變化情形用一階的馬可夫程序(first order Markov process)來模擬；
並且假設為個相鄰衰退增益(fading gain) 的quadrature component呈雙變異常態分
佈(bivariate normal distribution) ，其中相關係數(correlation coefficient)
可以描述通道的相關性。於是我們導出了一個廣泛的成對錯誤機率(pairwise error
probability)的上界。不管有沒有使用交插技術，或是交插深度(interleaving degr
ee) 由有限到無限，這個上界含蓋了各種情形。如果相關係數等於1,表示通道相關性
很強，所得的效能上界與從前沒有使用交插技術時所得的結果相同。當交插深度增加
時，相關係數就會變小，也就是通道的相關性變小，於是效能會變好，當相關係數為
零時，可得從前在理想交插技術的假設下所導出的結果。另外，如果實際通道上的相
關係數可以測知的話，我們就可以估計出所需要的交插深度。
由此上界我們發現在高訊號雜音比(signal-to-noise ratio) 的情形下，有效碼長在
錯誤效能上仍然扮演了最重要的角色，然而第二重要的角色修改成為廣義距離積(gen
eralized product distance)。同時，交插技術的效用也可以由此上界看出。最後我
們陳示出格狀調變碼以及區塊調變碼(block modulation code) 的分析以及電腦模擬
結果。