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研究生:韋道光
研究生(外文):WEI,DAO-GUANG
論文名稱:調變碼在衰退通道上之性能分析
指導教授:呂忠津趙啟超趙啟超引用關係
指導教授(外文):LU,ZHONG-JINZHAO,QI-CHAO
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:電機工程研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1991
畢業學年度:78
語文別:中文
中文關鍵詞:調變碼衰退通道交插技術第一錯誤事件固定波包廣義距離積
外文關鍵詞:(IDEAL-INTERLEAVING)(FIRST-ERROR-EVENT)(ENVELOPE)(GENERALIZED-PRODUCT-DISTANCE)
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從過去的文獻中得知,如果在雷生衰退通道(Rician fading channel) 上使用理想的
交插技術(ideal interleaving),對於格狀調變碼(trellis modulation code) 的選
用標準乃是選擇有效碼長(effective code length) 最大者;當兩個碼的有效碼長相
同時,則選取距離積(coro-duct distance)較大的碼。如果沒有使用交插技術,假設
通道的衰退情形相當緩慢,以致於在每一個第一錯誤事件(first error event) 中的
衰退程度均相同,則選擇free distance 較大者。
事實上,交插深度一定是有限的,而且究竟深度要取多少才能達到理想效果,也是很
難定得出來。另外,衰退情形也不可能慢到每一個第一錯誤事件均相同。於是在固定
波包(envelope)訊號的假設下,我們對於雷烈(Rayleigh)衰退通道提出了一個新的模
型,將通道的變化情形用一階的馬可夫程序(first order Markov process)來模擬;
並且假設為個相鄰衰退增益(fading gain) 的quadrature component呈雙變異常態分
佈(bivariate normal distribution) ,其中相關係數(correlation coefficient)
可以描述通道的相關性。於是我們導出了一個廣泛的成對錯誤機率(pairwise error
probability)的上界。不管有沒有使用交插技術,或是交插深度(interleaving degr
ee) 由有限到無限,這個上界含蓋了各種情形。如果相關係數等於1,表示通道相關性
很強,所得的效能上界與從前沒有使用交插技術時所得的結果相同。當交插深度增加
時,相關係數就會變小,也就是通道的相關性變小,於是效能會變好,當相關係數為
零時,可得從前在理想交插技術的假設下所導出的結果。另外,如果實際通道上的相
關係數可以測知的話,我們就可以估計出所需要的交插深度。
由此上界我們發現在高訊號雜音比(signal-to-noise ratio) 的情形下,有效碼長在
錯誤效能上仍然扮演了最重要的角色,然而第二重要的角色修改成為廣義距離積(gen
eralized product distance)。同時,交插技術的效用也可以由此上界看出。最後我
們陳示出格狀調變碼以及區塊調變碼(block modulation code) 的分析以及電腦模擬
結果。

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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