本論文主要的目的是在提出一種新的技術及演算法則，用來測量一物體表面的幾何分
布。此法則主要是將光亮度的變化轉換成一連續相位的分布，文中將證明：三維物體
的高度隨著擺上物體所擾動亮度圖案與一已知參考面亮度圖案的相位差成正比。此演
算法較用傳統的相位量測術為快，因為它不須要移動亮度圖案的相位，也不受相位反
正切運算於±π處不連續的影響。由於不以點對點機械式地掃描整個物體，故它是一
種非接觸性的表面量測方法。配合繪圖軟體，待測物表面幾何形狀可在終端機上顯示
出來 。