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研究生:許振榮
研究生(外文):Xu, Zhen-Rong
論文名稱:低溫掃描穿隧式顯微術
論文名稱(外文):Low temperature scanning tunnel microscopy
指導教授:溫增明郭義雄郭義雄引用關係
指導教授(外文):Wen, Zeng-MingGuo, Yi-Xiong
學位類別:碩士
校院名稱:國立交通大學
系所名稱:電子物理學研究所
學門:自然科學學門
學類:物理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1992
畢業學年度:80
語文別:中文
論文頁數:51
中文關鍵詞:原子影像高溫超導薄膜電子物理電子工程
外文關鍵詞:ELECTROPHYSICSELECTRONIC-ENGINEERING
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經過不斷的嘗試與研究,我們的低溫掃描穿隧式顯微儀 (Low Temperature
Scanning Tunneling Microscope; STM) 系統已能正常運作,並且可很容易於溫度
4.2K ∼ 300K之間得到石墨及 2H-NbSe等層狀材料表面的原子影像。由於STM 的
種種優點,例如其具有原子尺度的高解析能力,非破壞性的觀察方式,以及可運用
於各種不同的環境,使得STM 最近廣泛成為研究表面科學的最佳工具。
在實驗的初步階段,我們遭遇到許多問題,以致於儀器不能正常工作,包括探針的
品質,DC電壓,步進馬達驅近,雜訊,避震處理等問題,最後都已一一克服。除了
HOPG 與 2H-NbSe 表面的原子影像外,我們亦可觀察到在低溫下 2H-NbSe的
Charge Density Wave (CDW) 狀態,且當溫度高於某一特定溫度(約34K )時,其
CDW 狀態將會消失。另外我們以LTSTM 觀察本實驗室鍍出的高溫超導薄膜,增加我
們對高溫超導薄膜成長機制的了解,及樣品傳輸的重要性。另外,我們初步量測了
高溫超導薄膜的I-V 曲線,發現以LTSTM 量測I-V 曲線存在著許多問題,如樣品品
質(單晶大小),樣品的表面處理,熱漂移,DC位移等問題,還有待一一解決。

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