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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:黃俊真
研究生(外文):Hwang, Jun Jane
論文名稱:自製混成積體電路可靠度與加速壽命試驗之研究
論文名稱(外文):A Case Study in Reliability and Accelerated Life Test of Selfproduct Subhybrid
指導教授:阮約翰阮約翰引用關係
指導教授(外文):Yuan, John
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程研究所
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1993
畢業學年度:81
語文別:中文
中文關鍵詞:混成積體電路可靠度加速壽命試驗
外文關鍵詞:SubhybridReliabilityAccelerated life test
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將加速壽命試驗應用在電子產品,選擇適當的環境應力,加速其失效,提
早了解產品的特性,既省時又經濟,是目前值得推廣的可靠度技術。從失
效的資料中, 藉著相關的統計方法分析,可得到電子產品在加速環境應力
下的相關可靠度訊息。如平均失效時間等;再透過適當加速模式因子的轉
換,便可得到正常操作環境下的相關訊息。除此之外,可利用失效模式分
析等手法,分析加速試驗所得之失效模式找出導致失效的主要元件及主要
原因,回饋到設計上,提供設計人員作為修改設計的參考,以期獲得更
高可靠度的產品,這才是壽命試驗最終的目的。本文第二章將介紹加速壽
命試驗的理論及方法。此外,第三章我們也將介紹幾個加速壽命試驗模式
,找出加速因子,透過第四章所得之數據,計算出正常操作下的產品壽命
。第四章為此次壽命試驗的實驗計劃及試驗所得數據,後續之章節將針對
此數據加以分析。分析的方法包含第五章之非參數法-圖形法及第六章之
參數法-貝氏分析法和最大概似法。最後,第七章並針對失效樣本作分析
,並找失效原因。
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