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研究生:李俊毅
研究生(外文):Jun-Yin Lee
論文名稱:管制圖另一方式之探討
論文名稱(外文):Another Kind of Discussion of Control Charts
指導教授:張德新張德新引用關係
指導教授(外文):Der-Shin Chang
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:統計學研究所
學門:數學及統計學門
學類:統計學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1993
畢業學年度:81
語文別:中文
中文關鍵詞:管制圖管制上限管制下限管制中心線
外文關鍵詞:Control ChartUpper Control LimitLower Control LimitCentral Line
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管制圖係於1924年由美國品管大師蕭華特(W.A. Shewhart)博士發明。它
是用統計方法,將搜集的資料計算出兩管制界限,也就是工程上所能做到
之製程能力水準,而後隨時將製程時之樣本記錄計算點入管制圖內,以提
醒操作人員之注意,如發現有超出界限外之點或其它異常現象,立即自行
設法改善作業,以免繼續發生產品之不良現象。而一般最常使用的管制
圖(Control chart)有平均值與標準差管制圖和平均值與全距管制圖兩種
,是以平均值和標準差或平均值和全距兩個統計量來做圖解記錄,以觀察
製程變異的趨勢。而本文在第一章中討論蕭華特先生如何製做管制圖,及
研究動機,在第二章中則提出一結合平均值與標準差兩統計量之函數的新
統計量來做探討,藉此可達到簡化為一個圖代替上述兩個圖的目的,並提
出兩種新的管制圖,分別幾為一維圖形及二維圖形,而在第三章中則提出
一結合平均值與全距兩統計量之函數的新統計量來做探討,同理可達到簡
化為一個圖代替上述兩個圖的目的,亦有一維圖形及二維圖形而且在二,
三章中我們分別以提出之新統計量與傳統管制圖做比較,比較其型一誤
差(type I error)及檢力(power),在新舊管制圖之型一誤差是相當接近
,而新管制圖之檢力表現甚佳,在第四章中作一討論及結論,並說明在兩
種新管制圖(一維圖形及二維圖形)的使用時機。

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