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研究生:吳聰志
研究生(外文):Tsung-Chin Wu
論文名稱:基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法
論文名稱(外文):A Time_Saving Structural Testing Scheme For Mask_ROM
指導教授:李崇仁李崇仁引用關係
指導教授(外文):Chung-Len Lee
學位類別:碩士
校院名稱:國立交通大學
系所名稱:電子研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1994
畢業學年度:82
語文別:英文
論文頁數:24
中文關鍵詞:唯讀記憶體故障測試 .
外文關鍵詞:ROMfailuretest .
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利用對光罩式唯讀記憶體之故障模式的分析 ,可以將測試向量做 一 最佳
化的安排 , 以及早偵測出故障的晶片 , 減低測試時間 .

The analysis of the failure modes of mask_ROM leads to the
optimal test vectors flow plan to reduce test time .

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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