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研究生:林烈信
研究生(外文):Lieh-Zing Lin
論文名稱:二氧化釕與三氧化二鋁薄膜之電性及拉曼光譜研究
論文名稱(外文):The studies of Resistivity and Raman spectrum of (RuO2)x(Al2O3)1-x film
指導教授:陳洋元,姚永德
指導教授(外文):Y.Y.Chen,Y.D.Yao
學位類別:碩士
校院名稱:輔仁大學
系所名稱:物理研究所
學門:自然科學學門
學類:物理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1995
畢業學年度:83
語文別:中文
論文頁數:71
中文關鍵詞:二氧化釕拉曼光譜變化範圍躍遷導電電阻率
外文關鍵詞:RuO2Raman SpectrumVariable-range hoppingResistivity
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為觀察導體摻入少量絕緣體後電性及結構之變化,實驗室使用 RuO2當作導
體,摻雜絕緣體 Al2O3 ,作成靶材,藉由 RF 濺鍍法,濺鍍 (RuO2)x(Al2
O3)1-x 薄膜 X 每隔 0.1 by weight),於三種不同基板 (Al2O3單晶,Si單
晶,玻璃)上,量測其電性的變化,並做了一系列 Raman光譜,及 X-Ray 量測
比較.

The main purpose of this article is to study the electrical
Properties and the structure of the (RuO2)x(Al2O3)1-x film. We
growth the (RuO2)x(Al2O3)1-x film ,X by weight, on three kinds
of Al2O3,Si,glass substrates by RF sputtering and look for
their different in the electrical properties by resistivity
measuring and the structure by Raman spectrum,X-Ray measuring.

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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