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研究生:許志銘
研究生(外文):Chih-Ming Sheu
論文名稱:組合電路中多重錯誤模式之測試資料產生及壓縮
論文名稱(外文):The Test Generation and Compaction for Multiple Fault Models in Combinational Circuit
指導教授:王行健
指導教授(外文):Sying-Jyan Wang
學位類別:碩士
校院名稱:國立中興大學
系所名稱:資訊科學學系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1995
畢業學年度:83
語文別:中文
論文頁數:60
中文關鍵詞:路徑延遲錯誤定值錯誤橋接式錯誤固定開路錯誤固定連通錯誤
外文關鍵詞:Path delay faultstuck at faultbridging faultstuck open
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對許多的積體電路設計而言,可靠度和品質水準的增加越來越重要。這篇
論文第一部份主要討論如何為一個組合電路產生一組測試樣本以涵蓋目前
常用的邏輯錯誤模型。如此,我們便可得到一個較高的錯誤涵蓋率,進而
提昇積體電路的品質和可靠度。研究結果顯示假如一個電路在其電晶體階
層是對稱的,一個測試集合若能偵測出所有閘階層中可被強健地測試的路
徑延遲錯誤和'E-set'中所有接線可偵測的定值錯誤,便偵測出所有可偵
測的定值錯誤,以及所有可被強健地測試的固定開路錯誤,同時也偵測出
所有的兩個輸入橋接式錯誤。若使用電流監督也可偵測出所有包含多重固
定連通錯誤和多重輸入橋接式錯誤的多重錯誤,只要這些多重錯誤之一是
輸入橋接式錯誤。在路徑延遲錯誤測試中,須被測試的路徑數目通常非常
多,它將嚴重影響到測試的時間及成本。因此尋找一有效的測試產生的方
法並使其測試向量集合可以被盡可能地壓縮,對於路徑延遲錯誤而言是一
重要的主題。在這篇論文的第二部份中,我們提出一種在測試產生過程將
未定值往最有利方向推導,使其測試集合可以被盡可能壓縮的方法,這方
法主要是根據推導時的`成本'來尋找最有利的方向。我們同時提出一種壓
縮測試集合的方法。在 LGSynth91 的測試電路的實驗結果顯示使用我們
的方法來減少測試集合的大小是很有效的。

For the design of many integrated circuits, the requirement for
reliability and quality is getting more and more important. The
first part of the paper discusses how to generate a set of test
patterns to cover various logic fault models for the designed
circuits. As a result, we can acquire a higher fault coverage,
which improves the quality and reliability of integrated The
results of our reserch reveal that if a circuit is dual at the
transistor level, a test set that detects all robustly testable
path delay faults and all detectable stuck-at faults of the 'E-
set' also detects all detectable stuck at faults, all robustly
testable stuck open faults and all two-tuple input bridging
faults. If current monitoring is used, it also detects all
multiple faults consisting of combinations of multiple stuck-on
faults and multiple input bridging faults as long as at least
one constituent of the multiple faults is an input bridging
fault.In the testing of path delay faults, the number of path
that must be tested is usually very large. It will heavily
influence the time and cost of testing. Therefore, It is
important to find an efficient method which makes the test set
of delay faults as compact as possible. In the second part of
the paper, we propose a method that derive the undefinded
values toward to the advantageous direction, which make the
test set easier to be compacted. We also suggest a method to
compact the test set.The experiment results on the benchmarks
of LGSynth91 show that our method is efficient to reduce the
size of the test set.

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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