目標物表面形狀及位置的量測在軍事，大地工程及一般生活均是非常重要
的。藉著今日光學技術的進步，導體技術的發展，線性積體電路的普及，
今日就可以以較低成本及較小體積來製造出較小型之三次元立體構像系統
。藉由電子影像及P.L.L 電路參數的調整，將可作出適用於不同場合之立
體構像系統。本文是介紹一種利用疊紋影像處理技術量取物體表面之幾何
形狀及以P.L.L線性積體電路量取由脈衝雷射光從基準點至目標物上的參
考點之相位差(由光程差產生)得到相對位置的電子立體構像系統。從而得
到目標物表面之立體資訊。此系統利用疊紋影像技術及利用單一I.C達成
雷射光之脈衝調變與光程延遲所造成之相位差的相位解調。提供欲以載波
相差方式測距者一個可供參考的方向。