吾人利用X光繞射原理來分析晶體的結構，在這篇論文中所分析的晶體乃
是一種釕分子化合物；此化合物結構具有面心螺旋對稱的特性，依據繞射
結果所得數據，經分析其結構鍵長、鍵角關係，得知結構為一扭曲之雙邊
金字塔形。第一章中，首先簡略說明X光發現的歷史、X光的物理義意、產
生的現象，以及X光的繞射特性與其應用；第二章則說明晶體的結構特性
：晶格、對稱性；晶體的基本單位元室參數及七大晶糸的分類；求解晶體
結構所利用的倒晶格空間、布拉格定律等基本原理；第三章則說明利用散
射現象，吾人可定義原子散射因子(atomic scattering factor)、結構因
子 (structure factor)，經過傅立葉轉換求得晶格內的電子密度分佈；
將所得電子密度分佈求出帕特生函數以解決相位問題，取得的資料首先決
定其所屬空間群，用重原子法(heavyatom method)求得較重原子位置，相
繼以差異傅立葉綜合法(diffeerence fourier synthesis)、最小方差擬
合法 (least-square fit)求出分子內各原子的相對位置，由此一連串的
數據的約化分析出晶體的結構。最後在附錄中簡略介紹數據的收集與蛋白
質分子的養晶方法。
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