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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:林達銘
論文名稱:一個GANPT性能標桿電路上之可測試設計
論文名稱(外文):GANPT: A Circuit for Benchmarking the Methodology of Scan-Based Design for Testability
指導教授:陳竹一
學位類別:碩士
校院名稱:中華大學
系所名稱:電機工程研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1997
畢業學年度:85
語文別:英文
論文頁數:31
中文關鍵詞:可測試設計標桿電路
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以掃描為基礎的可測試性設計是一種有效及容易的測試方法。當使用此方法時,有一些技術上的問題,例如:非同步時序訊號、非同步設定/清除訊號、時序訊號歪斜、匯流排衝突、多相時序訊號等,均被提出討論。使用各種不同方法及策略,將一個被稱為GANPT的標桿電路用來一步一步解決這些技術問題。對於包括面積、測試圖樣產生時間及錯誤涵蓋率等參數均作比較及選擇一種最佳策略,並且從中學習各種不同的方法。
Scan-based design-for-testability (DFT) is one of effective methods to ease the burden both for tests generated during design and applied during manufacturing processes. While applying the scan-based DFT techniques, several problems including inconsistent setting/resetting, inconsistent clocking, clock skewing, and bus confusion may arise from the modification of original design. A benchmark circuit GANPT is designed to illustrate the scan-based DFT problems and to demonstrate the methods of solving these DFT problems step-by-step. Various design parameters including area overhead, test generation time and the test coverage improvement are compared. This design and the experimental results can be used as an example for learning scan-based DFT and benchmarking for validating the capability of DFT tools.
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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