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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:朱立
研究生(外文):Ju, Li
論文名稱:透過金屬繞線層配置降低半導體製造時支天線效應
論文名稱(外文):Layer Assignment for Antenna Effect Reduction
指導教授:林永隆林永隆引用關係
指導教授(外文):Youn-Long Lin
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:資訊工程學系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1998
畢業學年度:86
語文別:中文
論文頁數:50
中文關鍵詞:超大型積體電路電腦設計自動化天線效應良率金屬繞線層配置
外文關鍵詞:vlsicadantenna effectyieldlayer assignment
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論 文 摘 要 在深微米(deep sub-micron)的IC製成中,天線效應(
antenna effect)可能會造成電子元件損壞而降低良率(yield)和晶片
的可靠度。所以在佈局設計時,將天線效應考慮進來是非常重要的。在早
期的研究中,天線效應的減少與避免會使晶片面積和電子接點(via)數
目增加。在這篇論文中,我們提出一個新的方法去減少天線效應而不會遭
遇上述的現象。這是使用所謂的軌道金屬繞線配置層重設(track
swapping)和線段集金屬繞線配置層重設(wire-set swapping)的方法
,而改變原來佈局的天線結構。首先,我們將映成(mapping)好的電路
做實體(physical)的定位(placement)和整體繞線(global routing
)。根據這個初始的實體設計(physical design),我們使用貪心繞線
演算法(greedy routing algorithm)得到一個兩層的通道繞線結果。接
著,我們使用修改過的CWL[12]演算法,從兩層繞線結果得到水平-垂直-
水平的三層繞線結果。根據這個結果,我們使用成本函數算出此佈局的初
始成本。最後,我們藉由軌道金屬繞線層配置重設(track swapping)和
線段集金屬繞線層配置重設(wire-set swapping)為基本運算單元的演
算法,來降低天線效應。一系列的實驗結果顯示我們所提出的這個方法的
確能有效的降低天線效應。

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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