目前半導體產業已在國內蓬勃發展，提高公司的競爭力及獲益能力，是在此競爭激烈
的產業中永續發展的首要課題。產品的良率及製程的穩定度為公司生產能力之指標，影響
公司的競爭力及獲益能力甚劇。而製程能力指標(Process Capacity Index)就是用來評估
製程穩定度及產品良率的重要工具之一，且可作為顧客評估供應商製程能力優劣的標準。
好的製程能力值不但肯定了公司的生產能力及競爭力，亦可提高公司的信譽。故如何穩定
製程、提高良率、保持一較佳的製程能力值是各公司努力的方向。
Cp、Cpk是目前產業界最普遍使用的製程能力指標，然而在半導體產業中，卻經常發
現製程能力指標無法確實反應產品的良率及製程的穩定度的情況，X電子公司就是因為此
問題深感困擾，不明白製程能力指標值和良率間為何經常出現差異的原因，因此在本研究
中，主要就是針對該公司的問題進行深入之分析，並期望提出一套簡易、實用且合理的製
程能力的評估方式，俾使該公司能順利解決此問題，使產品的製程能力指標能確實反應製
程狀況，以作為評估及管制之用。
為解決上述X電子公司的問題，本研究將由制度面及技術面，兩方面著手。首先研究
製程資料取得方面是否有缺失，並加以提出以供改善，接著再利用統計方法分析製程資料
型態，以確實找出此問題的癥結。
最後將藉由對製程能力指標既有文獻之參考及瞭解，提出一套簡易、正確、且實用的
製程能力評估方式供X電子公司使用。
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