|
[1] H. W. Kroto, J. R. Heath, S. C. O’Brien, R. F. Curl and R. E. Smally,Nature 318 (1985) 162.[2] W. Kratschmer, L. D. Lamb, K. Fostiropoulos, D. R. Huffman andNature (London) 347 (1990) 354.[3] J. Li, T. Mitsuki, M. Ozawa, H. Horiuchi, K. Kishio, K. Kitazawa, K.Kikuchi and Y. Achibs, J. Cryst. Growth 143 (1994) 58.[4] R. L. Meng, D. Ramirez, X. Jiang, P. C. Chow, C. Diaz, K. Matsuishi,S. C. Moss, P. H. Hor and C. W. Chu, Appl. Phys. Lett. 59 (1991)3402.[5] M. A. Verheijen, H. Meekes, G. Meijer, E. Raas and P. Bennema,Chem. Phys. Lett. 191 (1992) 339.[6] J. A. Dura, P. M. Pippenger, N. J. Halas, X. Z. Xiong, P. C. Chow andS. C. Moss, Appl. Phys. Lett. 63 (1993) 3443.[7] S. Ogawa, H. Furusawa, T. Watanabe and H. Yamamoto, J. Phys.Chem. Solids 61 (2000) 1047.[8] K. C. Chiu, J. S. Wang, C. F. Chen, C. H. Yang, T. Y. Lin, C. S. Huangand C. S. Ro, Chin. J. Mater. Sci. 27 (1995) 44.[9] R. F. Xiao, W. C. Ho, L. Y. Chow, K. K. Fung and J. Zheng, J. Appl.Phys. 77 (1995) 3572.[10] K. C. Chiu, J. S. Wang, C. Y. Lin, T. Y. Li and C. S. Ro, Mater. Res.Bull. 30 (1995) 883.[11] K. Yase, N. A. Kato, T. Hanada, H. Takiguchi, Y. Yoshida, G. Back,K. Abe and N. Tanigaki, Thin Solid Films 331 (1998) 131.[12] J. G. Hou, Y. Wang, W. Xu, S. Y. Zhang, Z. Jian and Y. H. Zhang,Appl. Phys. Lett. 70 (1997) 3110.[13] W. Xu, J. G. Hou and Z. Q. Wu, Appl. Phys. Lett. 73 (1998) 1367.[14] Q. Xue, T. Ogino, Y. Hasegawa, T. Hashizume, H. Shinohara and T.Sakurai, Mater. Sci. Eng. A 217/218 (1996) 27.[15] Y. Yoshida, N. Tanigaki and K. Yase, Thin Solid Films 281/282(1996) 80.[16] R. S. Chen, Y. J. Lin, I. C. Su and K. C. Chiu, Thin Solid Films 396(2001) 103.[17] P. A. Heiney J. E. Fischer, A. R. McGhie, W. J. Romanow, A. M.Denenstein, J. P. McCauley, Jr. and A. B. Smith III, Phys. Rev. Lett.66 (1991) 2911.[18] J. S. Su, Y. F. Chen and K. C. Chiu, Appl. Phys. Lett. 74 (1999) 439.[19] K. C. Chiu, J. S. Wang and C. Y. Lin, J. Appl. Phys. 79 (1996) 1784.[20] J. H. Weaver, J. L. Martins, T. Komeda, Y. Chen, T. R. Ohno, G. H.Kroll, N. Troullier, R. E. Haufler and R. E. Smalley, Phys. Rev. Lett.66 (1991) 1741.[21] M. Matus and H. Kuzmany, Appl. Phys. A 56 (1993) 241.[22] J. Winter, B. Burger and H. Kuzmany, Synthetc Metals 70 (1995)1385.[23] C. Reber, L. Yee, J. McKiernan, J. I. Jink, R. S. Williiam, W. M.Tong, D. A. A. Ohlberg, R. L. Whetten and F. Diederich, J. Phys.Chem. 95 (1991) 2127.[24] A. F. Hebard, R. C. Haddon, R. M. Fleming and A. R. Kortan, Appl.Phys. Lett. 59 (1991) 2109.[25] C. Wen, T. Aida, I. Honma, H. Komiyama and K. Yamada, J. Phys.Condens. Matter 6 (1994) 1603.[26] U. D. Venkteswaran, M. G. Schall, Y. Wang, P. Zhou and P. C.Eklund, Solid State Commun. 96 (1995) 951.[27] V. V. Sobolev and E. L. Busypina, Semiconductors 33 (1999) 26.[28] R. W. Lof, M. A. B. Beennendaal, B. Koopmans, H. T. Jonkman andJ. A. Sawatzky, Phys. Rev. Lett. 68 (1992) 3924.[29] P. L. Hansen, P. J. Falllon and W. Kratschmer, Chem. Phys. Lett. 181(1991) 367.[30] W. Y. Ching, M. Z. Huang, Y. N. Xu, W. G. Harter and F. T. Chan,Phys. Rev. Lett. 67 (1995) 2045.[31] A. F. Hebard, M. J. Rosseinsky, R. C. Haddon, D. W. Murphy, S. H.Glarum, T. T. M. Palstra, A. P. Ramirez and A. R. Kortan, Nature350 (1991) 600.[32] K. Tanigaki, T. W. Ebbesen, S. Saito, J. Mizuki, J. S. Tsai, Y. Kuboand S. Kuroshima, Nature 352 (1991) 222.[33] R. C. Haddon, A. S. Perel, R. C. Morris, T. T. M. Palstra, A. F.Hebard and R. M. Fleming, Appl. Phys. Lett. 67 (1995) 121.[34] J. Abrefah, D. R. Olander, M. Balooch and W. J. Siekhaus, Appl.Phys. Lett. 60 (1992) 1313.[35] M. W. Zemansky, and R. H. Dittman, Heat and Thermodynamics,(McGraw — Hill, Singapore, 1981).[36] R.-F. Xiao, J. I. D. Alexander and F. Rosenberger, Phys. Rev. A 38(1988) 2447.[37] W. Y. Zhou,S. S. Xie, G. Wang and S. F. Qian, Chin. Phys. Soc. 45(1996) 470.
|