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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:顏良芬
論文名稱:間距對數和之研究
指導教授:許文郁許文郁引用關係
指導教授(外文):Wun-Yi Shu
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:統計學研究所
學門:數學及統計學門
學類:統計學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2002
畢業學年度:90
語文別:中文
論文頁數:58
中文關鍵詞:適合度檢定間距對數和
外文關鍵詞:goodness of fitsum of log spacing
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本文利用Kullback Leibler information quantity 的概念以及對於任一隨機變數 ,若其累積分配函數為 ,則 符合均勻分佈(Uniform distribution) 的觀念,提出一個可用來作為適合度檢定(Goodness of fit)的統計量─間距對數和(sum of log spacing),進而研究關於此統計量的各種性質、優點,且探討各種適合度檢定並與經驗分配函數相關的適合度檢定量做比較。最後用這種方法到實際的數據,檢定微陣列(Microarray)的資料是否符合目前常用的模型。
目錄
前言 1
第一章 緒論 2
1.1 圖表的訊息(graphical visual) 2
1.2 最大概似估計和皮爾森卡方統計量 2
1.3 經驗分配含數統計量 4
第二章 適合度檢定 7
2.1 文獻探討 7
2.2 累積密度函數與均勻分佈的關係 8
2.3 K-L information quantity 10
第三章 間距對數和(sum of log spacing)統計量 14
3.1 期望值和變異數 14
3.2 樣本個數的影響 16
3.3 臨界值 19
第四章 未知參數的影響 22
第五章 適合度檢定之表現 31
5.1 檢定力的比較 31
5.2 實例說明 36
第六章 結論 40
參考文獻 41
<附錄一> 均勻分配的一些性質推導 43
<附錄二> 計算動差的前置作業 46
<附表一> 期望值與變異數附表 50
<附表二> 估計參數間距對數和統計量不同的百分位點臨界值 51
<附表三> 各類檢定力表格 53
<附圖> 間距對數和針對不同的樣本個數的直方圖 57
參考文獻
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