臺灣博碩士論文加值系統

摘 要
本論文包含三個研究主題。一、將KDP與ADP兩晶體加熱，並利用偏光顯微鏡沿a軸觀察兩晶體的光學變化，找出晶體的結構相變溫度。二、對兩晶體做熱分析測量(DSC與TGA)。三、沿a軸測量兩晶體在不同頻率下隨溫度變化之阻抗，經由計算得到晶體的電容率、導電係數、活化能、弛豫時間，藉由這些數值了晶體的導電、介電特性與溫度、頻率的關係。
利用加熱台在偏光顯微鏡下加熱兩晶體，我們沒有觀察到任何結構相變的光學變化，建議可從c軸觀察。我們對兩晶體進行熱分析測量，DSC與TGA兩曲線有相互重疊，表示晶體吸熱現象並非是結構相變所造成，而是熱分解的結果。
KDP晶體的介電常數與導電係數在180℃附近有異常。ADP晶體的介電常數在120℃~140℃有變化，導電係數沒觀察到特別的變化。
Electric Modulus 來研究晶體弛豫，該兩晶體的弛豫現象以導電弛豫為主，配合Williams-Watt form的衰減函數 來擬合 實驗曲線，可得到更佳擬合。

目錄
第一章 緒論……………………………1
第二章 晶體成長與光學觀測
一、晶體成長……………………………….4
二、晶體的光學觀測
(1) 偏光顯微鏡原理……………………..4
(2) 晶體的光學性質……………………..5
(3) 樣品光學性質的觀測………………..5
第三章 熱分析測量
一、理論…………………………………….18
二、實驗結果與討論……………………….20
第四章 晶體導電與介電性質研究
第一節 理論介紹………………………….28
第二節 實驗儀器介紹與阻抗分析……….37
第三節 實驗操作、結果與討論
一、實驗操作……………………………..40
二、結果與討論
(1) 晶體……………………..41
(2) 晶體…………………..60
(3) 晶體導電機制…………………….76
第五章 結論 …………………………….80
參考資料…………………………………….83
附錄………………………………………….84

參考資料
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