臺灣博碩士論文加值系統

在TFT-LCD面板的製造上，某些業者在考慮減低作業成本的情形下，揚棄了傳統式的先切割-後貼合基板的作法，而使用先貼合-後切割的作業方式。目前後者的主要困難即在於貼合良率損失的問題，由於TFT基板與CF基板的良率，就目前的技術有其上限（TFT：92%，CF：85%），而液晶製造中cell製程的先貼合-後切割基板方法會造成瑕疵品與良品貼合的特性，使得其貼合後良率又進一步減少（76∼77%），此種損失對TFT-LCD廠的獲利有極大的影響。為了降低此種損失，業者引進「良率配對」的作法，即是將TFT與CF基板上的瑕疵點轉換為矩陣而以指派問題來求解。
本研究首先探討基板的排列位置是否會影響對應關係之分佈狀況。其次針對排序系統發展36種排序法則，以總完成時間最小化做為衡量準則，以模擬求出各法則之績效並予以比較。結果發現，當基板依象限法或重心法方式排列時，對應關係有向對角線集中的趨勢；而在排序系統方面，移動距離對於排序法則的選擇具有相當的影響。

A new manufacturing process for the TFT-LCD panel has been developed under the cost reduction consideration. Traditional slicing first-bounding later method is replaced by the bounding first-slicing later method. The main problem for this method is the increase of yield loss. The bounding of two large substrates inevitably causes some defective panels bounded with good ones, hence further reduces the yield. To reduce the yield loss, the concept of yield mapping was developed. It first transfers the defects into one to one matching matrix between TFT and CF substrates, and then solves the problem as an assignment matrix.
The research first explored whether the one to one matching matrix could be altered by the arrangements of TFT and CF substrates so that the solution of the assignment matrix would have certain pattern. Next using total completion time as criterion, a total of 36 sorting heuristics were developed and many simulations were conducted to test their performance. The result indicates that when the substrates are arranged according to the quadrant and the centroid methods, the solution cells of the assignment matrix are distributed around the diagonal. The research also concludes that the moving distance has relative strong influence on the selection of sorting heuristics used.

目錄
致謝 I
摘要 II
ABSTRATE III
目錄 IV
圖目錄 VI
表目錄 VII
第一章 緒論 1
1.1研究背景 1
1.2 研究動機 2
1.3 研究目的 3
1.4研究範圍與限制 4
1.5研究流程 5
1.6論文架構 6
第二章 相關文獻探討 7
2.1 TFT- LCD製造程序 7
2.2良率配對 11
2.3開放工廠的排程問題 12
2.4訂單批次分割方法 13
2.5指派問題 14
2.5.1指派問題原型 14
2.5.2匈牙利法（Hungarian Nethod） 15
2.6電腦模擬 17
2.6.1電腦模擬之定義 17
2.6.1電腦模擬之流程 19
第三章 研究方法 21
3.1良率配對 21
3.1.1基板排列位置之探討 21
3.2排序模式的建立 23
3.2.1環境說明 23
3.2.2排序模式的建立 24
第四章 模式建構 31
4.1良率配對 31
4.2排序法則 43
4.2.1 模擬驗證步驟 44
4.2.2 基本模型問題界定與假設 44
4.2.3 主要的排序法則（策略一） 45
4.2.4 其他的排序法則（策略二） 53
4.2.5 結果分析 56
第五章 結論與後續研究方向 63
5.1 結論 63
5.1 後續研究方向 65
參考文獻 66
附錄 69
簡歷 93
圖目錄
圖2-1 液晶顯示器的製造程序 7
圖2-2 TFT-LCD基本構造 8
圖2-4 模擬程序架構 18
圖4-1 TFT與CF之良率配對圖 33
圖4-2 TFT與CF之對應關係圖 33
圖4-3 TFT與CF之對應關係圖（隨機） 34
圖4-4 TFT與CF之對應關係圖（排序） 35
圖4-5 TFT與CF之對應關係圖（象限） 35
圖4-6 TFT與CF之對應關係圖（重心） 35
圖4-7 平滑程度 42
圖4-8 排序機模式 44
表目錄
表2-1 不同Panel數下各技術表現良率水準 12
表2-2 指派問題因素表列 16
表3-1 3滿1空的排序模式之績效 29
表3-2 2滿2空的排序模式之績效 29
表4-1 TFT與CF基板之良率 32
表4-2 TFT與CF基板對應關係表（基板數為20） 34
表4-3 TFT與CF基板對應關係表（基板數為50） 36
表4-4 依象限排列之分佈狀況 38
表4-5 依重心排列之分佈狀況 39
表4-6 TFT與CF基板對應關係表 40
表4-7 平滑程度 41
表4-8 排序結果分析表 57
表4-9 相似係數之效果比較表 58
表4-10 AGV之移動時間 59
表4-11 法則1-1-1之卡匣移動時間(單位：秒) 60
表4-12 不同的移動距離下之績效 60
表4-13 當空卡匣移動距離改變時兩策略之差異
（以Basic Model為基準） 62

參考文獻
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