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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:林恩鶴
論文名稱:邏輯測試產業關鍵設備與部品供應商評估及管理
指導教授:吳鑄陶吳鑄陶引用關係
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程與工程管理學系
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2004
畢業學年度:92
語文別:中文
論文頁數:66
中文關鍵詞:邏輯測試測試機分類機針測機探針卡AHP層級分析法供應商管理
外文關鍵詞:Logic TestingTesterHandlerProberProbe CardAHPVendor management
相關次數:
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半導體測試業位居半導體供應鏈之下游,產業特性與其它半導體產業同為勞力,技術和資本密集之產業,在微利時代來臨和毛利逐年降低的嚴峻挑戰下,營運成本的控制成為產業競爭中成敗的關鍵因素,而邏輯測試業設備相關成本與支出佔邏輯測試產業經營成本70%以上,因此設備相關成本成為經營者必需努力控制的一項管理指標;設備相關成本來自折舊費用與維護費用,讓機台在最佳狀況產生最大的稼動是測試業者必需努力的方向。在技術密集的產業中,設備供應商的有效支援是絕對必要的,因此本研究針對邏輯測試產業之關鍵設備與部品供應商管理策略及評估方法進行研究,透過次級資料分析、產業資訊蒐集及個案公司訪談,產生供應商管理策略;本研究並運用AHP層級分析法,以系統化的方法快速產生供應商評比結果,經過實證研究證實本研究所建議之供應商管理策略及評比方法的確可行並能對邏輯測試業者產生實際價值。

研究結論如下:
1. 邏輯測試產業的關鍵設備及部品分別為:測試機、分類機、針測機及探針卡。
2. 針對關鍵設備的自主維修能力為邏輯測試產業目前急需投入資源的一個方向,維有足夠的自主維修能力才能快速修復設備與部品的異常,將生產中斷的損失降至最低。
3. 針對測試機供應商的策略:結合測試機供應商共同開發跨平台技術以提昇生產彈性
4. 針對分類機及針測機供應商策略:利用需求增加產生的訂單造成供應商的市場競爭,以爭取更多的折告及服務,將生產彈性的提昇與部品的共用列為採購的基本要求,並培養本土供應商(成本考量),給予更多的試用機會。
5. 探針卡策略 => 造成市場競爭,取得高階維修技術以減少生產中斷損失。
6. 本研究之供應商管理和AHP評估方法經過實例驗証,結果的確有助測試業之供應商管理,並產生實際之效益。
以上研究結論可供測試產業供應商評選人員及產業相關研究人員參考。
Semiconductor Testing industry belongs to back end of Semiconductor Supply Chain, and the characteristic of industry is highly requirement of manpower、technique & capital. To face the challenge of the low marginal profit age coming recently, the operation cost control is key factor of industrial competition. Equipment related cost & expense have reached 70% higher of the testing house operation cost, that is, the management of equipment related cost & expense is a must do for testing house decision level. The major component of equipment related cost is depreciation cost and maintain expense, therefore the supporting from equipment and parts vendor is very important in high technique requirement industry. This research focus on key equipment & parts of logic testing industry, collecting & analysis the data come from other research、industrial paper、newspaper & case study testing house, summarize the information & relation of testing industry & their vendor, and define vendor management strategy in a testing house, then using AHP ( Analytic Hierarchy Process ) to quickly determine the vendor evaluation & ranking result. After the case study of a testing house, we approved the strategy and evaluation method is very helpful for the case company.

And the summary of the research as below :
1. Key equipment & parts of Logic Testing Industry is : Tester、Handler、Prober & Probe Card.
2. The self-repair capability of key equipment & parts is an important mission for current logic testing industry. The capability can help factory quickly recover the down time and keep smooth production.
3. The strategy for logic testing house to their tester vendor : co-work with tester vendor for developing platform conversion technique, let product can testing on other platform for scheduling flexibility.
4. The strategy for logic testing house to their handler & prober vendor : Using the increasing order requirement to create a competitive environment market for bargaining price & service, enhance the flexibility of production & cultivate local vendor for future low cost consideration.
5. The strategy for logic testing house to their probe card vendor : Using the increasing order requirement to create a competitive environment market for bargaining and service, Obtain the high level probe card repair technique to avoid production break down loss when wafer sort business ramp up in near future.
6. The Vendor management model & AHP method used in this research are helpful for logic testing house after real case implement proven.

This research can be a reference paper for testing industry research & vendor evaluation related research.
目錄
致謝 1
ABSTRACT 3
圖目錄 6
表目錄 7
第一章 緒論 9
1.1 研究動機 9
1.2 研究目的 10
第二章 文獻探討 11
2.1供應商績效評估準則評選 11
2.2績效評估準則量化方法 – 層級分析法 13
第三章、研究設計 16
3.1研究方法 16
3.2研究架構 17
3.3 研究範圍 18
3.4 層級分析法的運用 18
第四章 邏輯測試關鍵設備分析 22
4.1 產業供應鏈 22
4.2 晶圓針測流程 23
4.3 最終測試流程 25
4.4 測試產業關鍵設備/部品 28
4.4.1 測試機供應商現況 30
4.4.2 分類機供應商現況 34
4.4.3 晶圓針測機與其產業現況 36
4.4.4 探針卡及供應商現況 38
第五章 國內邏輯測試大廠之關鍵供應商管理及AHP運用 40
5.1 封測串連服務(TURN KEY SERVICE ) 41
5.2 客戶和供應商關係 42
5.3 層級分析法應用在 S公司的供應商管理 43
5.4 本研究建議S公司的供應商管理模式 49
5.5 效益評估及個案分析結論 52
第六章 結論與建議 55
參考文獻 57
附錄A 我國測試業現況(本研究整理) 58
附錄B 分類機技術發展現況(本研究整理) 62
附錄C 晶圓針測市場及技術發展現況(本研究整理) 64
附錄D 探針卡技術發展現況(本研究整理) 66

圖目錄
圖1.1 半導體產量需求趨勢(1998-2008) 9
圖1.2 半導體測試業成本結構 10
圖3.1 研究架構 17
圖4.1 半導體製造流程 22
圖4.2 晶圓針測流程 23
圖4.3 晶圓針測設備/部品組成 24
圖4.4 最終測試流程 25
圖4.5 最終測試設備/部品組成 26
圖 4.6 測試機 28
圓4.7 分類機 28
圖4.8 晶圓針測機 28
圖4.9 邏輯測試機供應商市場佔有率趨勢 31
圖4.10 測試產業關聯圖 32
圖4.11 邏輯測試機市場規模 33
圖4.12 分類機廠商營運關聯圖 34
圖4.13 全球晶圓針測機產值 37
圖4.14 探針卡與晶圓針測組件 39
圖 5.1 TURN KEY SERVICE FLOW 41
圖 5.2 個案公司之客戶與供應商運作 42
圖 5.3 個案公司之供應商管理運作模型 51
圖A.1 1999~2004年全球半導體檢測設備市場 59
圖A.2 1999及2003年半導體檢測設備各種類別市場佔有率 60

表目錄
表2.1 DICKSON〔1966〕提出選擇外包商的23 個指標 12
表 2.2 BARBAROSOGLU AND YAZGAC〔1997〕之主要評估指標 13
表2.3 陳怡和〔1998〕所分析出之關鍵性指標 13
表2.4 層級分析法之評比尺度 15
表3.1 國內測試產品分佈 18
表3.2 不同平均數之計算方法 20
表3.3 成偶比對矩陣 20
表4.1 測試廠製程別設備/部品一覽表 29
表4.2 設備/部品生產運作重要性分析 30
表4.3 測試機供應商領先廠商 31
表4.4 測試機供應商發展與測試廠對策 33
表4.5 分類機供應商 35
表4.6 分類機供應商發展與測試業者之對策 36
表4.7 晶圓針測供應商基本資料 37
表4.8 針測機發展及測試廠對策 38
表5.1 個案基本資料(2003) 40
表5.2 S公司主要設備供應商 43
表5.3 個案公司機台採購決策權與供應商評估結果 43
表5.4 評估準則產生 44
表5.5 測試機供應商評比因子 44
表5.6 第一/二層準則表 45
表5.7 測試機供應商評比準則成對比較結果 45
表5.8 測試機評估因子相對權重 46
表5.9 權重矩陣的優先向量 46
表5.10 供應商成對相比 ( 取得成本 ) 47
表5.11 供應商成對比較矩陣 47
表5.12 因子VS供應商之列向量 47
表5.13 測試機供應商總分 47
表5.14 晶圓針測機供應商總分 48
表5.15分類機供應商總分 48
表5.16 本研究建議S公司供應商管理準則 49
表5.17 S公司對探針卡供應商的管理指標 50
表5.18 效益評估 52
表5.19 供應商管理系統改變前後比較 53
表5.20 供應商評比系統改變前後比較 53
表6.1 研究推論與建議 55
表A.1 全球前十大專業測試服務廠商排名 58
表A.2 我國測試業歷年重要指標 60
表A.3 我國測試業業務分佈比例(依營業額) 61
表A.4 我國測試業客戶型態分佈 61
表B.1 分類機機械特性 62
1. 工研院電子所,2004,2003半導體工業年鑑 ,台北ITIS
2. 工研院電子所,2003 DEC,台灣封測業發展前景分析,台北ITIS
3. 陳怡和,民87,供應商管理標竿之建立與分析—以台灣筆記型電腦產業
4. 為例,元智大學工業工程研究所碩士論文
5. 陳怡均,2004/5,IDM廠出脫封測產能趨勢明顯,安可買IBM上海廠房及星國廠設備,經濟日報
6. 李純君,2004/5,晶圓針測訂單委外趨勢加溫,封測廠應接不暇,電子時報
7. 葉牧青,1989,「AHP 層級結構設定問題之探討」,國立交通大學管科所碩士論文。
8. 劉晟熙,民86,「外包成功關鍵因素之探討」,國立政治大學企管所碩士論文。
9. 鄧振源、曾國雄,民78,「層級分析法(AHP)的內涵特性與應用(上)(下)」,
10. Agilent Web site: WWW.Agilent.com
11. Teradyne Web site : WWW.Teradyne.com
12. NP test Web site : WWW.NP.com
13. Synax web site : www.synax.com
14. Seiko Epson web site : www.epson.com
15. Spirox web site : www.spirox.com.tw
16. Barbarosoglu, G.., Yazgac, T., (1997),“An Application of the Analytic
17. Hierarchy Process to the supplier Selection Problem ” , Productio n andInventory Management Journal, pp.14-21.
18. Houshyar, A., David, L., 1992, “A systematic Selection Procedure”, Computersand Industrial Engineering, Vol. 23, No. 1-4, pp.173-176.
19. Nydick,R.L. and Hill,R.P.,(1992),“Using the Analytic Hierarchy Process toStructure the Supplier Selection Procedrue” , Internation Journal of Purchasing and Materials Management,Vol.28,No.2,pp.31-36.
20. Narasimhan,R.,(1983), “An Analytical Approach to Supplier Selection”,Journal of Purchasing and Materials Management,Vol.19,No.4,
21. Thomas, L. Saaty(1980),”The Analytic Hierarchy Process”, Mc Graw-Hill, NewYork.
22. Wilson, E. J., “The Relative Importance of Suppliers Selection Criteria : A Review and Update,” International Journal of Purchasing and MaterialsManagement, Vol.30, No.3, pp.35-41, 1994.
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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