臺灣博碩士論文加值系統

所謂複繞射，是指同時有兩個以上的反射面滿足繞射條件，產生繞射光。而各反射面間互相的干涉效應，會使該反射面的強度發生變化。根據動力繞射理論，我們可以決定強度變化與三重積相位，及三重積結構因子之間的關係。
在這篇論文中，我們利用X光繞射，以複繞射為原理，所發展出的雙向多光影像法（stereoscopic multibeam imaging），利用二維偵測器（CCD或IP）來收集複繞射圖形，由其強度分布來決定三重積相位，期間將就不同的繞射情形所產生不同的繞射圖形做分析，並探討利用相位擴展（phase extension）的方法計算各反射面的單獨相位，並進一步決定晶體結構分布。

摘要
致謝詞
目錄
圖表目錄
第一章 序言 1
第二章 理論部分 2
2.1 繞射 8
2.2 複繞射 9
2.3 動力繞射理論 9
2.4 實驗方法 17
第三章 實驗部分18
3.1 繞射儀幾何 18
3.2 晶體 24
3.3 同步輻射及CCD 26
3.4 實驗步驟 30
3.5 關於數據 35
第四章 數據、分析與相位擴展
4.1 數據37
4.2 相位計算48
4.3 關於相位擴展 53
4.4 總結 58
附錄一 旋轉L(110) 的方法 61
參考文獻 64

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