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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:劉家明
研究生(外文):Otto Lau
論文名稱:CdTe/InSb之繞射異常精細結構
論文名稱(外文):The Diffraction Anomalous Fine Structure of CdTe/InSb Thin Film
指導教授:張石麟
指導教授(外文):Prof. Shih-Lin Chang
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:物理學系
學門:自然科學學門
學類:物理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2004
畢業學年度:92
語文別:中文
論文頁數:44
中文關鍵詞:x光繞射異常精細結構
外文關鍵詞:CdTeInSbxraydafsx-ray
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本論文的主要目的在於使用同步輻光源,利用異常繞射精細結構法研究 CdTe/InSb 的單晶薄膜系統。一般在研究材料結構會使用X光吸收光譜,但X光吸收光譜只能針對特定元素,而繞射異常精細結構 DAFS
(Diffraction Anomalous Fine Structure) 的優點在於針對特定元素分析的同時,還結合了繞射的優點,可以選擇不同的晶向 q_r 去測量。

藉著 DAFS 上述的這些特點,本實驗試圖去找出 CdTe 薄膜與 InSb 基底的介面之應力變化。除此之外,由於 CdTe 與 InSb 的晶格常數非常接近,在介面的地方可能會有互相滲透的情形出現。利用在不同 q_r下測量的強度變化,去分析 DAFS 的同時,還會試著去分析兩種晶體於介面的成份變化。
1.導論...............................1
2.x光吸收光譜.......................11
3.繞射異精細結構....................17
4.實驗裝置與方法....................22
5.數據分析..........................32
6.結論..............................42
參考書目............................43
J. O. Cross, Phd. Thesis, (1996) Depart. of Physics, University of Washington.

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李彥儒, 2003, 博士論文 清華大學物理所。

翁世璋, 2003, 碩士論文 清華大學物理所。

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