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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:潘志宏
研究生(外文):Chih-Hung Pan
論文名稱:整合PDF資料庫之TEM分析程式設計:應用於奈米材料研究
論文名稱(外文):An Integrated Program for TEM Analysis on Nano-materials Employing the Powder Diffraction File
指導教授:黃智賢黃智賢引用關係
指導教授(外文):Jih-Shang Hwang
學位類別:碩士
校院名稱:國立臺灣海洋大學
系所名稱:光電科學研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2004
畢業學年度:92
語文別:中文
論文頁數:62
中文關鍵詞:粉末繞射資料庫穿透式電子顯微鏡布拉格定律氮化銦攝影機常數
外文關鍵詞:powder diffraction fileTEMBragg's LawInNcamera constantcamera equation
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我們以Visual Basic程式語言,整合粉末繞射(PDF)資料庫,開發了一個輔助TEM的自動化分析的軟體,PDFTEM。該軟體不僅可以查詢比對PDF資料庫,且可以輔助TEM選區繞射圖譜及真實空間晶格影像分析。此外,也可以自動做攝影機常數的校正。我們以InN作為測試顯示,其解析度可小於2%。
進一步我們也分析了攝影機常數的誤差,發現有機會可以經由誤差的分析,從選區繞射圖譜個別解出未知的攝影機長度與電子波長,從而在誤差的修正後,提高TEM分析的精度。
未來,我們希望該程式可繼續發展出以影像分析技術自動找出繞射點或平面間距,並比對模擬二維TEM選區繞射圖譜,進而達到TEM機上即時分析及全自動化的境界。
A visual basic program, PDFTEM, for transmission electron microscope (TEM) auto-analysis integrating the database of Powder Diffraction File (PDF), was developed. The program features not only to search the entire PDF database but also to assist auto-analyzing TEM selected area diffraction (SAD) pattern and real space lattice image employing the database. Camera constant can also be automatically calibrated without effort. The accuracy reaches <2% when PDFTEM was test using InN as example.
Furthermore, we have mad an error analysis for more accurate camera constant calibration. The result shows that the camera length and electron wavelength can be amazingly derived from a single SAD pattern. We believe that the accuracy can be further improved if careful error analysis was considered.
We hope that image processing technique can be incorporated into PDFTEM in the future so that SAD points or lattice d-spacings can be automatically detected. The program can eventually be capable of doing 2D SAD pattern simulation and comparing, making TEM an easy-to-use in situ analytical tool.
摘要
Abstract
圖目錄
第一章 簡介 1
參考文獻 2
第二章 研究目的 3
2-1 X-ray與粉末繞射資料庫 3
2-2 現有檢索軟體之發展 3
2-3 研究動機 4
參考文獻 7
第三章 實驗原理與方法 8
3-1 X光繞射 8
3-1-1 布拉格定律(Bragg’s Law) 8
3-1-2 X光繞射原理 9
3-1-3 粉末X光繞射法 9
3-2 穿透式電子顯微鏡(TEM)繞射 10
3-2-1 TEM結構及原理簡介 10
3-2-2 TEM繞射原理 16
3-3 粉末繞射文件 18
3-4 氮化銦薄膜製程 23
3-4-1 前言 23
3-4-2 製程 24
參考文獻 26
第四章 程式設計與實驗結果討論 28
4-1 程式基本架構 28
4-2 攝影機常數的校正 33
4-2-1 攝影機常數 33
4-2-2 相對值與真實值模式 34
4-3 待測樣本量測 40
4-3-1 InN樣本繞射圖量測 40
4-3-2 InN樣本HRTEM影像量測 44
4-4 誤差的來源與修正 49
第五章 結論 53
S.Iijima,”Helical microtubules of graphitic carbon.”, Nature 56–8,354(1991).
W.Wong-Ng,H.F.McMurdie,C.R.Hubbard,and A.D.Mighell,”Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology”,J.Res. Natl.Inst.Stand.Technol. 1013-1028,106.(2001)
Powder Diffraction File (2003 release) -International Center for Diffraction Data.
參考http://www.icdd.com/products/overview.htm網頁中PDF-2資料。
參考http://www.icdd.com/products/overview.htm網頁中PCPDFWIN資料。
Fawcett TG,Kabbekodu SN,Faber J,Needham F,McClune F,”Evaluating experimental method and techniques in X-ray diffraction using 280,000 data sets in the Powder Diffraction File”, POWDER DIFFRACTION , 20-25,19(1) (2004)
Powder Diffraction File (2003 release) - International Center for Diffraction Data.
陳力俊等著 “材料電子顯微鏡學”
Fultz.Howe “Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials”p73
Hanawalt,J.D.Rinn,H.W.Frevel,L.K.Ind.Eng.Chem.Anal.Ed.10,457-512(1938)
H.E.Swanson and R.K.Fuyat,NBS Circular 539,Vol.2(1953),data for 30 inorganic substances.
H.E.Swanson,R.K.Fuyat,and G.M.Ugrinic,NBS Circular 539,Vol.3 (1954),data for 34 inorganic substances.
Powder Diffraction File (2003 release) -International Center for Diffraction Data.
NBS*AIDS83 Manual 2001Release
T.L.Transley,C.P.Foley,J.Appl.Phys.59, 3241(1986).
A.Wakahara,T.Tsuchiya,A.Yoshida,J.Cryst.Growth 99, 385(1990).
M.Sato,Jpn.J.Appl.Phys.36,595(1997).
Q.Guo,M.Nishio,H.Ogawa,A.Yoshida,Jpn.J.Appl. Phys.38,L490(1999).
A.Yamamoto,Y.Yamauchi,M.Ohkubo,A.Hashimoto,J.Cryst.Growth 174 , 641(1997).
S.Yamaguchi,M.Kariya,S.Nitta,T.Takeuchi,C.Wetzel,H.Amano,I.Akasaki, J.Appl. Phys.85,682(1999).
T.J.Kistenmacher,S.A.Ecellberger,W.A.Bryden,J.Appl.Phys.74,1684(1993).
T.Tsuchiya,H.Yamano,O.Miki,A.Wakahara,A.Yoshida,Jpn.J.Appl.Phys.,Part1 38,18847(1999).
S.Yamaguchi,M.Kariya,S.Nitta,T.Takeuchi,C.Wetzel,H.Amano,I.Akasaki,J.Appl.Phys.85,7682(1999).
林麗瓊、陳貴賢等撰,”氮化銦與三元氮化銦鎵奈米結構及其光電特性研究”(國立台灣大學碳氮基材與奈米結構期中成果報告).
Jih-Shang Hwang,“Resistive heated MOCVD deposition of InN films”, Materials Chemistry and Physics 290–295,72(2001)
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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