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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:潘鵬元
研究生(外文):Peng-Yuan Pan
論文名稱:以Bootstrap方法探討非常態資料下之製程能力弱度指標
論文名稱(外文):Application of Bootstrap Method in Process Incapability Index under Non-Normality
指導教授:周昭宇周昭宇引用關係
指導教授(外文):Chao-Yu Chou
學位類別:碩士
校院名稱:國立雲林科技大學
系所名稱:工業工程與管理研究所碩士班
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2004
畢業學年度:92
語文別:中文
論文頁數:34
中文關鍵詞:Burr分配製程能力弱度指標Bootstrap方法
外文關鍵詞:Bootstrap methodthe Burr distributionProcess Incapability Index
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製程能力指標是品質管制的重要工具之一,一般在分析時常將測量值的母體分配假設為常態,而其假設可能會與實際狀況不符,造成誤判。本文為了解非常態資料對指標的影響,利用Burr分配及Bootstrap無母數的統計推論方法,探討Greenwich and Jahr-Schaffrath(1995)所提出的製程能力弱度指標(process incapability index)的信賴區間。其模擬結果顯示非常態資料下對於製程能力弱度指標的影響,峰態係數大於偏態係數,所以如以bootstrap方法來估算非常態資料下之製程能力弱度指標時,必須特別注意峰態偏離常態的程度。
One of the most important tools to control the quality is Process Capability Index Analysis. Traditionally, it has been assumed that underlying distribution of the measurements is normal. However, it is not normal in the real manufacturing process. In this paper, the distribution function of the Burr distribution and nonparametric Bootstrap method will be employed to examine confidence interval of Process Incapability Index, defined by Greenwich and Jahr-Schaffrath(1995). According to the results, kurtosis coefficient has more significantly effect than skewness coefficient. Therefore, when to estimate the Process Incapability Index in Bootstrap method should examine the effect of kurtosis of sample distribution departs from normality.
中文摘要.................................................................................................................. i
英文摘要................................................................................................................. ii
目錄.................................................................................................................................................. iii
表目錄.............................................................................................................................................. iv
圖目錄.............................................................................................................................................. vi
一、緒論..............................................................................................................................................1
1.1研究背景..............................................................................................................................1
1.2研究目的..............................................................................................................................1
1.3論文架構..............................................................................................................................2
二、文獻探討.....................................................................................................................................3
2.1 Burr分配..............................................................................................................................3
2.1.1 Burr分配的基本介紹......................................................................................................3
2.1.2 Burr分配的轉換..............................................................................................................4
2.2製程能力弱度指標.............................................................................................................8
2.2.1各種不同的製程能力指標.............................................................................................8
2.2.2製程能力弱度指標說明.................................................................................................9
2.3 Bootstrap方法....................................................................................................................15
2.3.1 Bootstrap方法介紹.........................................................................................................15
2.3.2 Bootstrap信賴區間.........................................................................................................16
2.3.3其他文獻探討.................................................................................................................17
三、模擬過程....................................................................................................................................18
3.1設定模擬參數組合...........................................................................................................18
3.2偏態與峰態之c,k參數組合說明.........................................................................18
3.3模擬步驟.........................................................................................................................19
四、模擬結果分析..........................................................................................................................23
4.1偏態對覆蓋率的影響...................................................................................................23
4.2峰態對覆蓋率的影響..................................................................................................25
4.3峰態與偏態皆偏離對覆蓋率的影響......................................................................27
4.4Bootstrap三種信賴區間的覆蓋率及平均寬度....................................................28
4.5製程能力弱度指標與Bootstrap三種信賴區間的關聯....................................28
4.6樣本數的探討................................................................................................................28
五、結論.........................................................................................................................................30
參考文獻..........................................................................................................................................31
附錄一..............................................................................................................................................32
附錄二..............................................................................................................................................33
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