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研究生:許峻銘
研究生(外文):Hsu Chun-Ming
論文名稱:專利引證與維護分析模型之建構
論文名稱(外文):The Distribution of Patent Citation and Maintenance
指導教授:賴子珍賴子珍引用關係
指導教授(外文):Lay Tzyy-Jane
學位類別:碩士
校院名稱:元智大學
系所名稱:國際企業學系
學門:商業及管理學門
學類:企業管理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2004
畢業學年度:92
語文別:中文
論文頁數:66
中文關鍵詞:專利專利引證法律保護狀態被引證落差時間專利引證分析
外文關鍵詞:PatentPatent CitationLegal StatusCited lagPatent Citation Analysis
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隨著智慧財產權意識的抬頭,近年來專利對企業的重要程度與日俱增,無論是用專利作為商業攻擊的武器亦或是作為防禦侵權的利器,都是企業維持競爭力的重要因素之一,過去簡單的專利統計數目分析已經無法滿足企業瞭解快速變化的市場資訊。因此本研究利用專利基本資料、相互引證關係與專利法律保護狀態等資訊建立一套幫助企業評斷專利價值的模型,提供決策單位作為擬定研發、經營策略之重要參考依據。
專利可以反應創新的即時性、可靠性、公開性與客觀性的優點,因此許多研究均以專利指標用來檢視企業研發策略,以及衡量企業研發績效的工具(Ernst, 1995;Rivette, 2000)。專利資料一方面可以用來衡量企業創新所累積的專業知識或技術價值,解決企業所擁有的無形資產無法量化及衡量的困難;另一方面因為專利資訊的公開、即時及客觀等特性,所以適合用來研究企業在研發上的活動,了解企業在市場上所佔有的技術地位與擁有的技術價值。
過去許多專利分析(Patent Analysis)的研究發現,專利的引證(Citation)與技術的重要性有顯著的相關性;Albert et al.(1991)在研究中發現,技術價值較高的專利,在其所在的產業內通常是被高度引證的專利。因此專利的引證常被用來檢驗技術的價值與影響力,作為評價技術的指標之一。
本研究利用專利文件中的被引證資料(Cited)解析專利從申請核准開始到的法定生命週期期滿的引證分佈情況,並結合專利的法律保護狀態(Legal Status)與可能影響專利引證的相關指標建構出專利資訊(Patent Information)對專利被引證次數(Patent Cited)影響之模型與專利被引證累積次數(Patent Accumulated Cited)對維護狀態(Maintenance)影響之模型,藉由此二模型衡量專利所內含的技術價值,並對企業的無形資產或創新技術提供一個客觀的評價準則。

目 錄
書名頁 i
論文口試委員審定書 ii
授權書 iii
碩博士論文授權書 iv
中文摘要 v
誌謝 vii
目 錄 viii
表目錄 xi
圖目錄 xii
一、緒論 1
1.1 研究背景與動機 1
1.2 研究目的與問題 3
二、文獻探討 4
2.1 專利權 4
2.2 專利價值 5
2.3 專利資訊 6
2.4 專利分析 9
2.5 專利品質指標 11
2.5.1 專利引證 12
2.5.2 專利品質指標 17
三、研究設計 22
3.1 模型架構 23
3.2 專利引證模型與研究變數定義 24
3.3 研究範圍 25
3.3.1 產業選擇 25
3.3.2 專利資料來源 26
3.3.3 專利檢索策略 27
3.3.4 研究變數定義 28
3.4 研究流程 35
3.5 研究假設 36
3.5 研究方法 38
四、統計分析結果 45
4.1 專利基本資訊與專利被引證之迴歸模式 45
4.2 專利基本資訊與專利被引證之迴歸結果分析 47
4.3 專利被引證次數與專利維護次數之迴歸模式 50
4.4 專利被引證次數與專利維護次數之迴歸結果分析 51
五、結論與建議 54
5.1 研究結論 54
5.1.1 統計分析結果 54
5.1.2 研究發現 57
5.1.3 研究貢獻 58
5.1.4 管理意涵 59
5.2 研究建議 59
5.3 研究限制 60
參 考 文 獻 62
表目錄
表2.1 專利引證相關文獻彙整 15
表2.2 專利收費概況表 20
表3.1 國際專利分類號定義表 27
表3.2 專利維護次數所對應之選擇機率 43
表4.1 變數敘述統計表 46
表4.2 負二項分配:專利資訊與專利被引證次數分析表 47
表4.3 實證研究模式統計預期方向彙總表 49
表4.4 變數敘述統計表 50
表4.5 專利被引證次數與專利維護次數分析表 51
表4.6 實證研究模式統計預期方向彙總表 53
圖目錄
圖2.1 專利分析流程 10
圖3.1 模型架構 23
圖3.2 專利被引證示意圖 30
圖3.3 專利文獻技術相似性計算方法 33
圖3.4 研究流程 35

英文文獻
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3. Albert, M.B., Avery D., McAllister, P. & Narin, F., “Direct Validation of Citation Counts as Indicators of Industrially Important Patents”, Research Policy, 1991
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14. Grupp Hariolf, Schmoch Ulrich, “Patent Statistics in the Age of Globalisation:New Legal Procedures, New Analytical Methods, New Economic Interpretation”, Research Policy, 1999, Vol. 28, p.377-396
15. Hall, Christopher D., “Patents, Licensing, and Antitrust”, The economics of patents and copyrights, 1986, p.59-86
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25. Jean O. Lanjouw & Mark Schankerman, “The Quality of Ideas:Measuring Innovation with Multiple Indicators”, NBER working paper, Sep. 2003, 7345
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33. Zavoina, R. and McElvey W., “A Statistical Model for the Analysis of Ordinal Level Dependent Variables,” Journal of Mathematical Sociology , Summer 1975, 103-120.
中文文獻
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5. Hamel , Gary (2000)「Leading the revolution」(啟動革命),李田樹&李芳齡 譯,台北:天下文化出版,2001年
6. 哈金的專利自學手冊。http://www.geocities.com/patent_tutorial/index.htm
7. 美國專利商標局。http://www.uspto.gov/
8. 歐洲專利組織的世界專利資料庫。http://www.european-patent-office.org/index.en.php
9. 中華民國智慧財產局。http://www.moeaipo.gov.tw/

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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